X熒光光譜儀由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),，激發(fā)被測樣品,，產(chǎn)生X熒光(二次X射線)，探測器對X熒光進(jìn)行檢測,。
一、X熒光光譜儀的技術(shù)原理：
受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性,。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量,。
元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,，根據(jù)莫斯萊定律,，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:
λ=K(Z? s) ?2
式中K和S是常數(shù),。
而根據(jù)量子理論,，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為:
E=hν=h C/λ
式中,，E為X射線光子的能量,，單位為keV;h為普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速。
因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ),。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此,，可以進(jìn)行元素定量分析,。
二,、X熒光光譜儀的用途：
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以 測定元素含量,。
近年來,，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金,、地質(zhì),、有色、建材,、商檢,、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域,，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得較多也較廣泛,。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體,、粉末,、熔珠、液體等樣品,，分析范圍為Be到U,。并且具有分析速度快、測量范圍寬,、干擾小的特點,。
17
立即詢價
您提交后,，專屬客服將第一時間為您服務(wù)