X熒光光譜儀的原理及優(yōu)點介紹
x熒光的基本原理：當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時,，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出,，對應(yīng)的形成一個空穴,，使原子處于激發(fā)狀態(tài)。此后在很短時間內(nèi),，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài),，以降低原子能級,。當(dāng)較外層的電子躍遷（符合量子力學(xué)理論）至內(nèi)層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產(chǎn)生了x熒光,。x熒光的能量與入射的能量無關(guān),，它只等于原子兩能級之間的能量差。由于能量差由該元素原子的殼層電子能級決定,，故稱之為該元素的特征x射線,，也稱熒光x射線或x熒光。 x熒光光譜法就是由x射線光管發(fā)生的一次x射線激發(fā)樣品,，試樣可以被激發(fā)出各種波長的特征x射線熒光,，需要把混合的x射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的x射線的強度,，以進行定性和定量分析的方法,。
1、優(yōu)點
1) 分析時間短,。測定用時與測定精密度有關(guān),，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2) 適用范圍廣,。X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),，而且跟固體、粉末,、液體及晶質(zhì),、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 ,。
3) 非破壞分析,，重現(xiàn)性好。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象,。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好,。
4) X射線熒光分析是一種物理分析方法,，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
5) 制樣簡單,，固體,、粉末、液體樣品等都可以進行分析,。
6) 分析精密度高,。
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