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當前位置：北京精誠華泰儀表有限公司>>技術文章>>常見粒度儀的幾種測試方法
1）篩分法。優(yōu)點：簡單,、直觀、設備造價低,，常用于大于40um的樣品,。缺點：結果受人為因素和篩孔變形影響較大,。
（2）顯微鏡（圖像）法。優(yōu)點：簡單,、直觀,，可進行形貌分析，適合分布窄（zui大和zui小粒徑的比值小于10：1）的樣品,。缺點：代表性差,，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1um的樣品,。
（3）沉降法（包括重力沉降和李新沉降）,。優(yōu)點：操作漸變，儀器可以連續(xù)運行,，價格低,，準確性和重復性較好，測試范圍較廣,。缺點：測試時間較長,，操作比較繁瑣。
（4）電阻法,。優(yōu)點：操作漸變可測顆粒數,，等效概念明確，速度快,，準確性好,。缺點：不適合測量小于0.1um的顆粒樣品，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩,。
（5）激光法,。優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍廣,，重復性和準確性好,，可進行在線測量和干法測量。缺點：結果受分布模型影響較大,，儀器造價較高,，分辨力低。
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