當前位置:北京精誠華泰儀表有限公司>>技術文章>>常見粒度儀的幾種測試方法
1)篩分法。優(yōu)點:簡單,、直觀、設備造價低,,常用于大于40um的樣品,。缺點:結果受人為因素和篩孔變形影響較大,。
(2)顯微鏡(圖像)法。優(yōu)點:簡單,、直觀,,可進行形貌分析,適合分布窄(zui大和zui小粒徑的比值小于10:1)的樣品,。缺點:代表性差,,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,無法分析小于1um的樣品,。
(3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降),。優(yōu)點:操作漸變,儀器可以連續(xù)運行,,價格低,,準確性和重復性較好,測試范圍較廣,。缺點:測試時間較長,,操作比較繁瑣。
(4)電阻法,。優(yōu)點:操作漸變可測顆粒數,,等效概念明確,速度快,,準確性好,。缺點:不適合測量小于0.1um的顆粒樣品,對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩,。
(5)激光法,。優(yōu)點:操作簡便,測試速度快,測試范圍廣,,重復性和準確性好,,可進行在線測量和干法測量。缺點:結果受分布模型影響較大,,儀器造價較高,,分辨力低。
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