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1)篩分法,。優(yōu)點:簡單,、直觀、設(shè)備造價低,,常用于大于40um的樣品,。缺點:結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(2)顯微鏡(圖像)法,。優(yōu)點:簡單,、直觀,可進行形貌分析,,適合分布窄(zui大和zui小粒徑的比值小于10:1)的樣品,。缺點:代表性差,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,,無法分析小于1um的樣品,。
(3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。優(yōu)點:操作漸變,,儀器可以連續(xù)運行,,價格低,準確性和重復性較好,,測試范圍較廣,。缺點:測試時間較長,操作比較繁瑣,。
(4)電阻法,。優(yōu)點:操作漸變可測顆粒數(shù),等效概念明確,,速度快,,準確性好。缺點:不適合測量小于0.1um的顆粒樣品,,對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩,。
(5)激光法。優(yōu)點:操作簡便,,測試速度快,,測試范圍廣,重復性和準確性好,,可進行在線測量和干法測量,。缺點:結(jié)果受分布模型影響較大,,儀器造價較高,分辨力低,。
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