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當前位置：北京精誠華泰儀表有限公司>>技術(shù)文章>>常見粒度儀的幾種測試方法
1）篩分法,。優(yōu)點：簡單,、直觀、設(shè)備造價低,，常用于大于40um的樣品,。缺點：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
（2）顯微鏡（圖像）法,。優(yōu)點：簡單,、直觀，可進行形貌分析,，適合分布窄（zui大和zui小粒徑的比值小于10：1）的樣品,。缺點：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,，無法分析小于1um的樣品,。
（3）沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。優(yōu)點：操作漸變,，儀器可以連續(xù)運行,，價格低，準確性和重復性較好,，測試范圍較廣,。缺點：測試時間較長，操作比較繁瑣,。
（4）電阻法,。優(yōu)點：操作漸變可測顆粒數(shù)，等效概念明確,，速度快,，準確性好。缺點：不適合測量小于0.1um的顆粒樣品,，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩,。
（5）激光法。優(yōu)點：操作簡便,，測試速度快,，測試范圍廣，重復性和準確性好,，可進行在線測量和干法測量,。缺點：結(jié)果受分布模型影響較大,，儀器造價較高，分辨力低,。
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