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變溫霍爾效應實驗儀說明書

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霍爾效應的測量是研究半導體性質的重要實驗方法,。利用霍爾系數和電導率的聯合測量，可以用來確定半導體的導電類型和 載流子濃度,。通過測量霍爾系數與電導率隨溫度的變化,，可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數等基本參數,。本儀器采用現代電子技術和計算機數據采集系統(tǒng),，對霍爾樣品在弱場條件下進行變溫霍爾系數和電導率的測量，來確定半導體材料的各種性質,。

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