高低溫循環(huán)試驗?zāi)康?/span>: 檢驗產(chǎn)品受到長時間冷熱溫度交變作用后熱應(yīng)力對產(chǎn)品性能的影響作用,。溫?zé)嵩囼災(zāi)康?檢驗產(chǎn)品受到高溫高濕環(huán)境時的劣化特性,，評價材料的吸濕特性,、結(jié)露特性,，及產(chǎn)品在濕熱環(huán)境下的貯存和使用性能。

濕熱試驗條件

試驗持續(xù)時間(一般最少10個周期,，240h,，但需要預(yù)處理24h,試驗至少需要264h)

試驗以24h為一個循環(huán)周期，最少進(jìn)行10個周期,。一般10個周期足以展現(xiàn)濕熱環(huán)境對大多數(shù)裝備的潛在影響,。為了使?jié)駸嵩囼灲Y(jié)果更真實地反映裝備耐濕熱環(huán)境的能力，可按有關(guān)文件的規(guī)定,，延長試驗持續(xù)時間,。

溫濕度測試基本范疇是25%RH～95%RH（在20℃～85℃中間）。伴隨著社會的發(fā)展趨勢,，測試規(guī)定也愈來愈高,，全新的流行溫濕度測試范疇大多數(shù)早已提升到10%RH～98%RH（在溫度10℃～95℃中間）,。

試樣制備：

1、低溫測試,，要求25±5℃,，60±15%裸機(jī)，開機(jī)4h;

2,、高溫測試，要求溫度+55℃,，試驗4h;

3,、熱沖擊試驗，裸機(jī)在關(guān)機(jī)的情況下,，+85℃環(huán)境條件下45min,，-40℃環(huán)境條件下試驗45min，兩溫度的轉(zhuǎn)換時間不大于15秒,，進(jìn)行27個循環(huán),，測試后放置至少兩個小時后進(jìn)行開機(jī)檢測;

4、溫度循環(huán)測試,，裸機(jī)關(guān)機(jī),，70℃測試1h，40℃測試1h,，-40℃測試1h,，每個循環(huán)為三個小時，共27個循環(huán),，測試后放置至少2個小時進(jìn)行檢測;

5,、高溫高濕存貯試驗，在裸機(jī)開機(jī)狀態(tài)下,，試驗溫度調(diào)為55℃,，濕度93%RH，試驗時間設(shè)置為72h,，測試后放置2h進(jìn)行功能,、電性能、外觀檢測,，再用普通透明膠帶粘附鍵盤,，每次持續(xù)時間1分鐘，1分鐘后在1秒內(nèi)將鍵盤剝離膠帶,，共進(jìn)行3次,，檢測鍵盤是否有漆層脫落、鍵盤脫落故障,。

試驗步驟：

1,、在樣品斷電的狀態(tài)下,，先將溫度下降到-50℃，保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試,，非常重要,，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產(chǎn)生+20℃以上溫度,，所以,，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試,，必須先將其“凍透",，再次通電進(jìn)行測試。

2,、開機(jī),，對樣品進(jìn)行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常,。

3,、進(jìn)行老化測試，觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤,。

4,、升溫到+90℃，保持4個小時,，與低溫測試相反,，升溫過程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),，4個小時后,，執(zhí)行2、3,、4測試步驟,。

5、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次,。

6,、如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗,。

電子產(chǎn)品溫濕度循環(huán)測試方法高低溫試驗箱

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