微電路元件可靠性試驗方法液槽沖擊試驗箱
目的：確定元件暴露于高低溫極值下，以及高低溫極值交替沖擊下所具有的抗御能力,。
符合標準：MIL-STD-883 推力標準
試驗：
將試驗樣品置于低溫箱中,，此時，低溫箱的溫度已調至表1規(guī)定的極值溫度,，并在溫度下按表2規(guī)定的時間進行保溫,。
保溫時間到，在5min內將試驗樣品從低溫箱格至高溫箱中,，此時,，高溫箱的溫度已調
至表1規(guī)定的極值溫度，并在此溫度下按表2規(guī)定的時間進行保溫,，
保溫時間到,，在5min內將試驗樣品從高溫箱移至低溫箱中。此時,，低溫箱的溫度已調至4.3.1款的極值溫度,，并在此溫度下按4.3.1款的試驗時間進行保溫。
初的5次循環(huán)應連續(xù)地進行,。5次循環(huán)后,，在任何一次循環(huán)完成之后都可以中斷試驗。再恢復試,。驗之前可允許試驗樣品恢復到試驗的標準大氣條件,。
在測試階段，不同的推力值會在不同的溫度環(huán)境下應用于待測定的元件上,，包括低溫(-196°C至+85°C)和高溫(-55°至+125°C),。MIL-STD-883 規(guī)定,，低溫部分應用的推力值為25g(0.25 ms)，峰峰值和保持時間分別為50g(1ms)和11 ms:高溫部分應用的推力值為15g(0.15 ms),，峰峰值和保持時間分別為30g(0.3 ms)和6ms,。此外，MTL-STD-883 規(guī)定,，在完成推力測試前,，還必須記錄和存檔測試要求，以確保能夠進行正確分析和結果報告,。
在恢復階段,，完成推力測試之后，用干測試的微電路元件應當嚴格按照建立的標準進行復原活動,，以保證受到的捐傷達到小值,。通過 MIL-STD-883 推力標準的測試，可以溯源檢測微電路元件的可靠性,，同時確保微電路元件的性能,，減少設備出現故障的風險，提高設備的可用性,。因此,，現代微電路制造廠紛紛采用 MIL-STD-883 推力標準來保證其產品的可靠性和可用性。
