抗干擾介損測(cè)試儀抗干擾解析
標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度的標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,,被試回路由被試品和采樣電路組成,。由單片機(jī)運(yùn)用計(jì)算機(jī)數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,對(duì)數(shù)以萬計(jì)的采樣數(shù)據(jù)處理后進(jìn)行矢量運(yùn)算,,分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ),測(cè)量結(jié)果可靠?,F(xiàn)場(chǎng)有干擾時(shí),,先利用移相、倒相法減小干擾的影響,,再將被試回路測(cè)得的電流Ix’與單獨(dú)測(cè)得的干擾電流Id矢量相加,,得到真正的測(cè)量電流Ix,,進(jìn)而得出正確的測(cè)量結(jié)果,??筛鶕?jù)不同的測(cè)量對(duì)象和測(cè)量需要,靈活地采用多種接線方式,。如測(cè)量非接地試品(正接法)時(shí),,“Lv”(E)點(diǎn)接地;而測(cè)量接地試品(反接法)時(shí),,則“Hv”點(diǎn)
在交流電壓作用下,,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗,。這種能量損耗叫做 電介質(zhì)的損耗,。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ,,Ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù),。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),,如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成,,被試回路由被試品和測(cè)量線路組成,。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等,,再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,,通過矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。