您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品分類品牌分類
-
CSK-IB試塊 GS-1,、2,、3、4試塊承壓設(shè)備無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 承壓設(shè)備無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA 試塊 CSK-IA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波試塊 溝槽射線探傷對(duì)比試塊 ASME非管徑焊縫試塊 NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)超聲波試塊 鐵道部標(biāo)準(zhǔn)試塊 石油天然氣管道專用試塊 建筑行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 其它國家標(biāo)準(zhǔn)試塊 NDT培訓(xùn)考試試塊 超聲波探傷試塊
-
紫外線燈75 不銹鋼鍍鉻條紋試塊 新美達(dá)清洗劑 紅色磁粉油磁懸液 顯像劑滲透劑清洗劑 反差增強(qiáng)抄數(shù)掃描劑 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 增強(qiáng)顯示劑磁粉探傷 新美達(dá)MT-BW黑水磁懸液 宏達(dá)牌干法黑磁粉,、干法紅磁粉 熒光探傷磁粉磁懸 水基紅色磁懸液 宏達(dá)牌熒光磁粉（紅磁粉/黑磁粉） 新美達(dá)MT-BO黑油磁懸液 上海新美達(dá)/誠友集團(tuán)反差增強(qiáng)劑 磁粉探傷用消泡劑 無錫捷成 磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì) 北京師范大學(xué) 屏幕亮度計(jì) 北師大紫外輻照計(jì) 宏達(dá)干法黑磁粉 宏達(dá)牌 熒光磁懸液 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)牌濕法探傷磁粉膏 宏達(dá)牌著色滲透探傷劑 新美達(dá) DPT-5 著色滲透探傷劑 RJUV-90紫外線探傷燈 RJUV-40紫外線探傷燈 熒光磁粉探傷 顯影粉定影粉 DPT-5著色探傷機(jī)滲透探傷劑顯像劑 著色滲透探傷劑 A型靈敏度試片 FC-5反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)黑油磁懸液 磁場(chǎng)指示器八角試塊 儒佳 RJ-LED86觀片燈與黑白密度計(jì)一體 儒佳RJH-130高精密超聲波測(cè)厚儀 磁粉探傷|干磁粉噴散器
-
標(biāo)定尺 警戒帶警示牌 現(xiàn)場(chǎng)警示燈 膠片洗片機(jī) 透射式黑白密度計(jì) 工業(yè)底片黑白密度計(jì) 工業(yè)LED觀片燈 冷光源便攜式觀片燈 冷光源底片燈 工業(yè) 鉛箔增感屏 顯定影液套藥加熱棒 工業(yè)膠片透射式黑白密度計(jì)含校準(zhǔn)密度片 核輻射劑量片熱釋光片 冷光源工業(yè)觀片燈黑度5.0D 雙絲像質(zhì)計(jì)DR成像系統(tǒng)用雙線型IQI定制選擇 環(huán)境輻射檢測(cè)儀核輻射檢測(cè)手持式醫(yī)院工業(yè)射線巡檢儀 底片評(píng)片燈x光射線探傷 工業(yè)觀片燈/射線探傷評(píng)片/小巧臺(tái)式便攜/高亮度冷光源LED黑度5.0D 暗室紅燈定時(shí)器 射線探傷專用鉛字盒 愛克發(fā)AGFA G335定影液 沖洗套藥 手洗套藥 愛克發(fā)顯影液 定影液 沖洗套藥 手洗套藥 機(jī)洗套藥AGFA 管道射線探傷專用尺 定位尺 磁性貼邊框 數(shù)字定時(shí)器暗室紅燈定時(shí)器 不銹鋼洗片桶 射線評(píng)片尺 拉環(huán)磁鋼 膠片底片袋 可加工定制 暗室LED燈 （手持式）個(gè)人劑量報(bào)警儀 筆式輻射報(bào)警儀 環(huán)境輻射檢測(cè)儀 工業(yè)X射線照相底片袋 探傷膠片袋 定制定做 工業(yè)底片烘干箱 便攜工業(yè)底片烘干箱 325000Lux工業(yè)底片觀片燈 435000Lux工業(yè)底片觀片燈 高亮度工業(yè)觀片燈 腕式個(gè)人劑量計(jì) 黑白密度計(jì)定制生產(chǎn) 廠家直銷 個(gè)人輻射劑量報(bào)警儀價(jià)格 筆式輻射劑量報(bào)警儀 非磁性暗袋 射線探傷暗袋非磁人革暗袋 觀片燈 射線觀片燈 醫(yī)用輻射劑量報(bào)警儀 暗室紅燈計(jì)時(shí)器 一體式密度計(jì)觀片燈 高亮度射線底片觀片燈 暗室紅燈 手持式輻射報(bào)警儀 個(gè)人劑量報(bào)警儀 工業(yè)觀片燈 膠片燈 便攜式工業(yè)冷光源觀片燈 底片評(píng)片燈
薄鋼板對(duì)接焊縫超聲波檢測(cè)探頭的選擇
在云南,，隨著小型電站的不斷開發(fā)與興建,，約8mm厚度的薄鋼板在壓力鋼管中應(yīng)用較多。
*,，對(duì)接焊縫的管壁越薄,、焊縫蓋面的寬度相對(duì)越寬(埋弧自動(dòng)焊焊縫蓋面寬度為 22mm，背縫寬度為20mm),，超聲波檢測(cè)的困難就越大,，所以選擇探頭K值和前沿距離L值很重要。
K值是斜探頭主聲束在被檢工件中折射角的正切值,；探頭前沿距離L值是入射點(diǎn)至探頭前端的距離,。
在8mm厚度鋼板的對(duì)接焊縫超聲波檢測(cè)時(shí)一般將儀器調(diào)試為水平1:1掃描，并采用單面雙側(cè)單 只探頭檢驗(yàn),，使一,、二次聲程能掃查到焊縫整個(gè)截面。
例如：5Z8×12K3.0探頭的前沿距離L=10mm,， 檢測(cè)8mm厚鋼板對(duì)接焊縫 ,，當(dāng)焊縫蓋面寬度為22mm時(shí)，因探頭前沿距離較大,，很難滿足探 傷的要求,，所以應(yīng)在探頭K值不變的情況下盡量選擇前沿距離較短的探頭,。
如：5P6×6K3.0，L=4mm的探頭方可基本滿足檢測(cè)要求,。
1,、 一次聲程掃查焊縫根部時(shí)探頭的選擇
一般鋼板厚度為8mm的對(duì)接焊縫坡口型式為V，鈍邊高度為3mm,，間隙為0～1.0mm,。
當(dāng)采用埋弧自動(dòng)焊焊接時(shí)，焊縫蓋面的寬度在 22mm左右 ,。
由此可知探頭選擇的條件,，當(dāng)探頭的前端與焊縫余高接觸且無法再向前移動(dòng)時(shí)，使主聲束一次聲程能掃查到焊縫寬度中心線距底面3mm的焊 縫根部 (如圖1),，應(yīng)滿足下式的要求：
( T-3)K≥(b/2+L ) (1)
式中：
T-鋼板厚度,，mm；
b-檢測(cè)面焊縫寬度,，mm,；
L-探頭前沿距離，mm,。
當(dāng)選擇5P6×6K3.0,，L=4mm探頭時(shí),，焊縫寬 度為22mm,，代入(1)式，左式=(8-3)×3=15,，右式=(22/2+4)=15,；左式=右式 ，滿足(1)式要求,，說明該型探頭,，其主聲束一次聲程能掃查到焊縫根部 。
當(dāng)選擇5Z8×12K3.0,，L=10mm的探頭時(shí),，將 T，K,，b,，L分別代入(1)式的左、右式,，左式=15,，右式=(22/2+10)=21，則左式小于右式,，不滿足(1)式要求,，說明該型探頭的一次聲程不適合檢測(cè)8mm厚的薄鋼板對(duì)接焊縫,。
掃查方式采用單面雙側(cè)，檢測(cè)位置為距底面3 mm的焊縫根部區(qū)域,，當(dāng)探頭后移時(shí)反射回波的一次聲程水平距離小于24min為缺陷波,，大于等于24mm則不判為缺陷波。
2,、二次聲程掃查焊縫上部時(shí)探頭的選擇
8mm厚鋼板對(duì)接焊縫,，檢測(cè)面焊縫的寬度b= 22mm；背面焊縫寬度b'=20mm時(shí),，探頭的選擇應(yīng)滿足以下要求：
當(dāng)探頭的前端與焊縫的余高接觸探頭無法向前移動(dòng)時(shí),，使主聲束二次聲程能掃查到焊縫寬度中心線距底面3mm的焊縫位置，見圖2,。
探頭K值和前沿距離同樣應(yīng)滿足(1)式,。
當(dāng)(T-3)K<(b/2+L)時(shí)，會(huì)產(chǎn)生漏檢,，也就是說探頭的K值越?。惶筋^前沿距離L值越大,，焊縫截面的漏檢區(qū)域就越多,。
當(dāng)板厚為8mm的對(duì)接焊縫，檢測(cè)面焊縫寬度為 b=22mm,；焊縫背面寬度為b'=20mm,，采用二次聲程掃查焊縫上部時(shí)，由于背縫的余高過渡到與母材邊界線的區(qū)域?yàn)槿松潼c(diǎn),，入射點(diǎn)至焊縫 中心線距離應(yīng)大于等于b'/2,，即主聲束二次聲程掃查到焊縫寬度中心線距底面 b'/2÷K=3.3mm的焊縫位置，此時(shí)存在0.3mm漏檢區(qū)域,。
在焊縫的寬度超寬時(shí),，因焊縫的正、背面都存在余高和寬度,，即使探頭前沿距離為零,，由于焊縫寬度和余高的存在就會(huì)有一定的死區(qū)(檢測(cè)不到位置)。
掃查方式采用單面雙側(cè),，檢測(cè)區(qū)域?yàn)榫嗌媳砻?8-3.3mm的焊縫區(qū)域,，當(dāng)探頭后移時(shí)，反射回波的二次聲程的水平距離大于(8+3.3)K或小于2X8均為缺陷波,。大于2X8K則不判為缺陷 波,。
３、結(jié)論
1)在實(shí)際超聲波檢測(cè)中,，必須實(shí)際測(cè)量焊縫母 材的厚度T,，檢測(cè)面焊縫寬度b,，背面焊縫寬度 b'，探頭前沿距離L值和探頭K值,，并根據(jù)公式進(jìn)行計(jì)算后正確選擇探頭 ,。
2)當(dāng)兩只或多只探頭同時(shí)滿足計(jì)算要求時(shí)，應(yīng) 盡量選擇聲程值較小的探頭,。
3)當(dāng)選擇基本符合計(jì)算值要求的探頭時(shí),，采用 單面雙側(cè)檢測(cè)，應(yīng)盡量選擇適合的探頭達(dá)到漏檢少,。
4)根據(jù)探傷標(biāo)準(zhǔn)的要求,，選擇探頭頻率和晶片 尺寸的大小。