光源系統(tǒng)故障
氘燈或鎢燈損壞是核心問題,。當(dāng)儀器提示"能量太低"時,，需優(yōu)先檢查光源壽命。例如,，氘燈在起輝瞬間閃動或燈絲發(fā)紅但無法正常起輝,，通常因起輝電路故障或燈電流調(diào)整晶體管損壞。鎢燈失效表現(xiàn)為兩端電壓正常但燈不亮,，需用萬用表檢測燈絲電阻,。保險絲熔斷可能伴隨供電異常，需檢查電源電壓穩(wěn)定性,。

信號傳輸異常
通訊錯誤常源于數(shù)據(jù)線接觸不良,。若自檢提示"通訊錯誤"，應(yīng)檢查RS232/USB接口連接狀態(tài),，確認(rèn)軟件配置的COM口與實際端口匹配,。零點漂移問題多見于簡易儀器，其炭膜電阻電位器因接觸不良導(dǎo)致,，需更換高精度電位器,。當(dāng)吸光值出現(xiàn)負(fù)值時，需確認(rèn)是否執(zhí)行空白記憶操作,，并檢查參比液與樣品液的吸光值關(guān)系,。

光學(xué)系統(tǒng)故障
基線噪聲異常涉及多維度因素。全波長基線噪聲大時,，需檢查光源鏡位置是否偏離入射狹縫中央,，同時確認(rèn)石英窗表面是否存在樣品濺射污染。紫外區(qū)噪聲突出時,，需排查氘燈老化程度,，或通過研磨濾光片消除結(jié)晶物。波長校準(zhǔn)失敗時,，可通過656.1nm特征譜線驗證,，高檔儀器可調(diào)用自動校正功能，簡易儀器需專業(yè)人員調(diào)整波長傳動機構(gòu),。

機械結(jié)構(gòu)問題
樣品架定位偏差直接影響測量重復(fù)性,。當(dāng)吸光值信號擺動時，需檢查推拉式樣品架的定位碰珠是否磨損,，或采用金屬活化劑清洗氧化觸點,。光閘失效表現(xiàn)為T=100%無法調(diào)節(jié)，需檢查彈簧張力或清除異物卡阻,。比色皿污染會導(dǎo)致紫外區(qū)吸光值異常,，需用250nm波長檢測空比色皿吸光值，確保其小于0.07Abs,。

日常維護中,，建議每周開機預(yù)熱30分鐘，定期清潔密封窗及透鏡,，使用石英比色皿并避免溶液濺入樣品室,。環(huán)境濕度應(yīng)控制在60%以下，必要時配備穩(wěn)壓電源,。故障排查應(yīng)遵循"先外后內(nèi)"原則,，優(yōu)先檢查電源、連接線等外圍部件,，再逐步深入光學(xué)系統(tǒng),。