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涂層測(cè)厚儀測(cè)量原理及分類
涂層測(cè)厚儀是起到對(duì)材料表面起保護(hù),，裝飾作用的覆蓋層，如涂層,，鍍層,，敷層，貼層,，化學(xué)生成膜等,，在一些國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層
覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段,。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,，對(duì)覆層厚度有了明確要求,。
覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法,，電解法,，厚度差測(cè)量法，稱重法,，X射線熒光法,，β射線反向散射法，電容法,、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等,。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣,，速度慢,，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量,，但裝置復(fù)雜昂貴,，測(cè)量范圍較小,。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范,。X射線法可測(cè)極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后,，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能,、多功能,、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步,。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,，是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器,。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,，檢測(cè)速度快,，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。 
一． 磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀
磁鐵（測(cè)頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,，這個(gè)距離就是覆層的厚度,。利用這一原理制成測(cè)厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,，就可進(jìn)行測(cè)量,。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣,。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成,。磁鋼與被測(cè)物吸合后,，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大,。當(dāng)拉力剛好大于吸力,，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度,。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這一記錄過程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合,。
這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,、堅(jiān)固耐用、不用電源,，測(cè)量前無須校準(zhǔn),，價(jià)格也較低，很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制,。
二． 磁感應(yīng)測(cè)量原理
采用磁感應(yīng)原理時(shí),，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度,。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,，來表示其覆層厚度。覆層越厚,，則磁阻越大,，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度,。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）,。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào),。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度,。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻,、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),，利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào),。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī),，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)磁感應(yīng)測(cè)厚儀_電渦流測(cè)量原理_磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀_電渦流原理的測(cè)厚儀到0.1um,，允許誤差達(dá)1%,，量程達(dá)10mm。
磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷,、搪瓷防護(hù)層,，塑料、橡膠覆層,，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
三． 電渦流測(cè)量原理
高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,，則渦流愈大,，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小,。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭,。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,，主要區(qū)別是測(cè)頭不同,，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小,、標(biāo)度關(guān)系不同,。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,，允許誤差1%,，量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測(cè)厚儀,，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,，如航天航空器表面、車輛,、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜,。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）,。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適.
四、塑膠產(chǎn)品上涂層厚度的測(cè)量問題-用轉(zhuǎn)移法測(cè)量塑膠產(chǎn)品上涂層時(shí)的注意事項(xiàng)
對(duì)塑膠產(chǎn)品上涂層的測(cè)量,。如使用超聲波發(fā)測(cè)量時(shí),，經(jīng)常因涂層與基材發(fā)生相溶而沒有較好的聲波反射面，從而導(dǎo)致測(cè)量失敗或讀值嚴(yán)重偏差,。如使用切鍥法,，也多有使用不方便和讀數(shù)困難的地方。
所以目前便攜式電子產(chǎn)品廠普遍使用轉(zhuǎn)移法測(cè)量塑膠產(chǎn)品上涂層,。
我們經(jīng)過多年實(shí)踐,，推薦先在產(chǎn)品上蓋若干小條標(biāo)準(zhǔn)厚度的聚酯薄膜（50微米左右，我公司有專門定制供應(yīng)）,，再用紙基美紋膠帶壓住兩頭,，留出中間部分。將該產(chǎn)品放入噴涂線上正常噴涂,、烘烤,。
產(chǎn)品完工后，取下留有漆膜的聚酯薄膜,，用鐵零板（或鋁零板）做基板用磁感應(yīng)（或電渦流法）膜厚儀分別測(cè)量有涂層的部分和無涂層的部分,，兩者之差就是涂層厚度。由于采用同一塊零板,，所以電磁感應(yīng)參考點(diǎn)不會(huì)發(fā)生變化,，從而保證了測(cè)量基準(zhǔn)不變，保證了測(cè)量的準(zhǔn)確,。另外,，特別是因采用了差別法，所以儀器和零板的誤差都會(huì)因相減而抵消,。這樣就大大降低了對(duì)零板和儀器精度的要求,。
也有部分工廠仍采用粘貼鐵片和鋁片的方法，需要注意的是每塊鐵片或鋁片表面粗糙度不同,、凸凹變形,、厚薄變化等會(huì)造成電磁感應(yīng)參考點(diǎn)發(fā)生變化，這樣可能會(huì)造成測(cè)量誤差加大和重復(fù)性較差,。需要注意避免,。
涂層厚儀測(cè)量的其他問題
a. 涂層烘烤固化后，還有一個(gè)繼續(xù)固化的緩慢過程,，因條件限制, 工廠一般取下產(chǎn)品后就會(huì)測(cè)量,。如過一兩天后再測(cè)，往往厚度會(huì)少1~3微米,。
b. 至于切片法測(cè)厚,，制備切片則非常重要,。由于基材和涂層都較軟，切割變形可能造成涂層向基材方向或基材向涂層方向擠壓侵占,，從而造成讀數(shù)偏大或偏小,。
另外油漆噴涂過程是液態(tài)點(diǎn)狀濺射至基材后，經(jīng)流平,、交聯(lián),、成膜固化。斷面一定是表面有起伏狀態(tài),，外觀上看則呈現(xiàn)出桔皮現(xiàn)象,。轉(zhuǎn)移法測(cè)厚是在平面上隨機(jī)取點(diǎn)，或再取平均數(shù),，切片法是在切割處的一條直線斷面上顯微目視讀數(shù),。兩者因取點(diǎn)方法不同、位置不同,，兩者讀數(shù)會(huì)有不同,。但兩者有互相參考價(jià)值，可分析對(duì)比找出原因,。