iMOXS測量系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：

        借助模塊化X射線源iMOXS（IfG 模塊化X射線源），您可以輕松擴展您的掃描電子顯微鏡(SEM)的功能,。iMOXS 使用電子顯微鏡的現(xiàn)有探測器,，能夠以較低的成本通過選定法蘭與所有現(xiàn)有類型的SEM結(jié)合,。您可在SEM的電子源與額外的X射線源之間進行選擇,，從而利用一臺設(shè)備對樣品進行 X 射線熒光分析與電子束微量分析。通過利用這兩種方法的優(yōu)勢,，您能夠以非常高的分辨率檢測低濃度元素,。

iMOXS測量系統(tǒng)特性：

1、模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計：X射線管和X射線光學器件能夠依據(jù)特定要求輕松調(diào)整

2,、簡單操作：可通過SEM監(jiān)控器輕松調(diào)整并查看測量位置

3,、可通過選定法蘭輕松安裝到所有現(xiàn)有原子力顯微鏡上

4,、適用于分析低至10 µm的結(jié)構(gòu)：高質(zhì)量的多毛細管光學器件可將 X 射線聚焦在小型測量區(qū)域上。

5,、表面下方檢查：即使表面下方深處的材料也能測量

應(yīng)用：

1,、SEM 映射：快速概覽樣品的元素成分；找出SEM無法看到的元素

2,、故障分析,，材料失效與材料疲勞測試

3、在 SEM 中直接進行材料分析,，例如測定鋁合金中的硅與鋅比例

4,、鑒定分析

5、ppm 級的痕量元素證明

檢測重元素 (Z > 18)