壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件的超聲波探傷

1.主題內(nèi)容與適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀所進(jìn)行的探傷方法和缺陷等級(jí)分類(lèi),。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“工件"）和其他類(lèi)似部件的超聲波探傷,。

2.術(shù)語(yǔ)

2.1 透聲性

超聲縱波垂直入射到測(cè)試面與底面平行的無(wú)缺陷工件時(shí)，聲波在其中往返一次所引起的聲壓降,，單位為分貝(db),。

3.探傷人員

壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件探傷應(yīng)由具有一基礎(chǔ)知識(shí)和球墨鑄鐵件探傷經(jīng)驗(yàn)，并經(jīng)考核取得有關(guān)部門(mén)認(rèn)可的資格證書(shū)者擔(dān)任,。

4.探傷器材

4.1 探傷儀

4.1.1 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀,，其頻率范圍應(yīng)在1~5MHz之間。

4.1.2 儀器至少應(yīng)在滿(mǎn)刻度的75%范圍內(nèi)呈線性顯示,，垂直線性誤差不得大于5%,。

4.1.3 儀器的水平線性、分辨力和衰減器的精度等指標(biāo)均應(yīng)符合ZB Y230的有關(guān)規(guī)定,。

4.2 探頭

4.2.1 縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在10~30mm之間,，工作頻率為1~5MHz，頻率誤差為±10%,。

4.2.2 橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100~400mm^２,，K值一般取1~3,。

4.2.3 縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。

4.3 儀器系統(tǒng)的性能

儀器系統(tǒng)的靈敏度余量和分辨力應(yīng)按照ZB J04 001的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行測(cè)試,。

4.3.1 在工作頻率下,，縱波直探頭的靈敏度余量不得低于30dB，橫波斜探頭的靈敏度余量按附錄A（補(bǔ)充件）A1.2條的規(guī)定,。

4.3.2 在工作頻率下,，縱波直探頭的分辨力不得低于20dB，橫波斜探頭的分辨力不得低于15dB,。

4.4 試塊

標(biāo)準(zhǔn)試塊用碳鋼或低合金鋼鍛件材料制作,，不允許存在大于等于φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。

4.4.1 縱波直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊

4.4.1.1 工件探測(cè)距離大于等于1.6倍近場(chǎng)區(qū),，應(yīng)采用縱波直探頭,。

4.4.2縱波雙晶直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊

4.4.2.1 工件探測(cè)距離小于1.6倍近場(chǎng)區(qū)，應(yīng)采用縱波雙晶直探頭,。

4.4.3 橫波斜探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸應(yīng)按附錄A中A1.3條及圖A1的規(guī)定,。

4.4.4 探傷面是曲面時(shí)，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或接近(0.7~1.1倍)的對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失,，其形狀和尺寸按圖3及表1,。

4.5耦合劑

可采用機(jī)油、甘油,、油脂等透聲性能好,，且不損害工件的耦合劑。

5.探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作

5.1探傷原則上應(yīng)安排在最終熱處理后進(jìn)行,，若因熱處理后工件形狀不適于超聲探傷,，也可將探傷安排在熱處理前，但熱處理后,，仍應(yīng)對(duì)其進(jìn)行盡可能的探傷,。

5.2工件應(yīng)在外觀檢查合格后，方可進(jìn)行超聲探傷,，所有影響超聲檢測(cè)的物質(zhì)都應(yīng)予以清除,。

5.3探傷面的表面粗糙度值應(yīng)為Ra3.2μm。

6.探傷方法

工件超聲探傷以縱波直探頭和縱波雙晶直探頭為主要探傷方法,。如因受工件形狀和缺陷方向的限制,，無(wú)法單獨(dú)用縱波探傷進(jìn)行有效的檢測(cè)，經(jīng)供需雙方協(xié)商同意,，可采用附錄A規(guī)定的橫波檢驗(yàn)方法,。

6.1探測(cè)方向

6.1.1原則上應(yīng)從探測(cè)面上兩相互垂直的方向進(jìn)行,，并應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)體積,。

6.1.2主要工件的探測(cè)方向如圖4所示,。

6.2掃查

6.2.1 應(yīng)對(duì)工件整個(gè)探測(cè)面進(jìn)行全面連續(xù)掃查。相鄰兩次掃查其相互重疊部分約為探頭晶片直徑的15%,。

6.2.2 掃查時(shí),，探頭移動(dòng)速度不得大于150mm/s。

6.2.3因工件幾何形狀限制而掃查不到的區(qū)域,，應(yīng)在探傷報(bào)告中予以注明,。

6.3工件透聲性的測(cè)定

將縱波直探頭與工件上探測(cè)面和底面平行而且無(wú)缺陷的部位耦合接觸，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度達(dá)到滿(mǎn)刻度的50%,，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù),。再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波的幅度達(dá)到滿(mǎn)刻度的50%,，兩次衰減器讀數(shù)之差即為該測(cè)量點(diǎn)的透聲性,。測(cè)量點(diǎn)不得少于三點(diǎn)，以其平均值表示該區(qū)域的透聲性,。

6.4探傷靈敏度的確定

6.4.1波直探頭探傷靈敏度的調(diào)整

首先,，將工件與探測(cè)距離等于或工件厚度的標(biāo)準(zhǔn)試塊相比較，求出透聲性補(bǔ)償值和表面粗糙度補(bǔ)償值,。然后在該試塊上測(cè)試,，使其φ3mm平底孔的回波幅度達(dá)到滿(mǎn)刻度的10%~20%，不改變儀器的參數(shù),，對(duì)探測(cè)距離較小的一系列試塊逐一測(cè)試,，測(cè)出其φ3mm平底孔回波的最高點(diǎn)，繪在熒光屏上,，連接這些點(diǎn)即可建立距離－幅度曲線,。也可A、V,、G計(jì)算法或A,、V、G曲線板確定其距離－幅度曲線,。

6.4.2縱波雙晶探頭探傷靈敏度的調(diào)整

測(cè)試一組不同探測(cè)距離的φ3mm平底孔,，調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿(mǎn)刻度的80%,，不改變儀器的參數(shù),，測(cè)出其他平底孔回波的最高點(diǎn)，將其繪在熒光屏上,，連接這些點(diǎn),，即可建立縱波雙晶探頭的距離－幅度曲線。

6.4.3補(bǔ)償

6.4.3.1表面粗糙度補(bǔ)償：在探傷和缺陷定量時(shí),，應(yīng)對(duì)由于表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償,。

6.4.3.2透聲性補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí),，應(yīng)對(duì)試塊透聲性引起的探傷靈敏度和缺陷定量的誤差進(jìn)行透聲補(bǔ)償。

6.4.3.3曲面補(bǔ)償：對(duì)于探測(cè)面是曲面的工件,，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或相近(0.7~1.1倍)的對(duì)比試塊來(lái)校正,，否則應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)那嫜a(bǔ)償。

6.4.4 探測(cè)靈敏度不得低于最大探測(cè)距離的φ3mm平底孔當(dāng)量,。

6.5探傷靈敏度的復(fù)查

探傷中,，應(yīng)核查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí),，應(yīng)重新調(diào)整,。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)上一次校準(zhǔn)以來(lái)所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探,；當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí),，應(yīng)對(duì)所有記錄缺陷進(jìn)行重新定量。

7.缺陷檢測(cè)

7.1缺陷記錄

7.1.1反射回波幅度等于或高于距離－幅度曲線的缺陷,。

7.1.2反射回波幅度雖未達(dá)到距離－幅度曲線,，但造成第一次底面回波消失的缺陷。

7.1.3底波和缺陷回波均沒(méi)有的部位,。

7.1.4雖不屬于上述三種情況,，但探傷人員能判定是裂紋和縮孔的缺陷。

7.2缺陷尺寸的測(cè)定

7.2.1當(dāng)缺陷回波幅度等于或高于距離－幅度曲線者,，其邊界可用6dB法確定,。工件厚度方向的尺寸由不同方向檢測(cè)所確定的缺陷上部和下部邊界確定。

7.2.2當(dāng)缺陷波未達(dá)到距離－幅度曲線,，但第一次底面回波消失時(shí),，缺陷的范圍應(yīng)從底面反射波剛好消失時(shí)的探頭中心位置算起到出現(xiàn)底面反射波時(shí)的探頭中心位置為止。缺陷的深度由一組連續(xù)缺陷回波最左側(cè)的波峰位置確定,。

7.2.3當(dāng)兩塊缺陷間距小于其中較大缺陷直徑時(shí),，兩缺陷可折合為一個(gè)缺陷，缺陷面積按實(shí)測(cè)計(jì),。

7.2.4單個(gè)缺陷的面積以該缺陷的最大尺寸與其在垂直方向的最大尺寸之積計(jì)算,。

7.2.5對(duì)于有疑問(wèn)的缺陷，也可采用其他行之有效的方法來(lái)進(jìn)行驗(yàn)證,。

8.缺陷等級(jí)分類(lèi)

8.1工件中不允許存在裂紋和縮孔等危害性缺陷,。

8.2工件的缺陷等級(jí)按表3規(guī)定，但對(duì)于圓柱形實(shí)心軸類(lèi)工件的缺陷等級(jí)分類(lèi)按表4規(guī)定,。

8.3缺陷所在的截面積為探測(cè)部位的最小剖截面積,。空心軸與實(shí)心軸的截面積均按實(shí)心軸計(jì)算。