產(chǎn)地類別 |
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儀器原理 |
激光測距儀 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
環(huán)保,綜合 |
BX-G103系列是針對高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的極-致型多入射角激光橢偏儀,。 BX-G03系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量,。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度,、折射率n和消光系數(shù)k,;也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k;亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度,、折射率n和消光系數(shù)k,。多入射角度設(shè)計實現(xiàn)了納米薄膜的絕對厚度測量。
關(guān)鍵詞:
激光測量儀 橢偏儀光源 橢偏儀 橢偏儀設(shè)備 激光測高儀精度

產(chǎn)品用途:激光橢偏儀
BX-G103系列是針對高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的極-致型多入射角激光橢偏儀,。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量,。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度,、折射率n和消光系數(shù)k,;也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k;亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度,、折射率n和消光系數(shù)k,。多入射角度設(shè)計實現(xiàn)了納米薄膜的絕對厚度測量。
儀器特點:
l 測量方法:Delta測量范圍0-360o,,無測量死角問題(即使在0o或180o附近時也具有極-高的準確度),,也可消除粗糙表面引起的消偏振效應(yīng)對結(jié)果的影響
l 原子層量級的極-高靈敏度和準確度:采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件,、高質(zhì)量的制造工藝實現(xiàn)并保證了極-高的準確度和穩(wěn)定性
l 百毫秒量級的快速測量:在保證極-高精度和準確度的同時,,可在幾百毫秒內(nèi)快速完成一次測量,可滿足快速多點檢測和批量檢測需求
l 精準方便的樣品對準:視頻式自準直樣品方位精密對準系統(tǒng),,精度高,、操作方便
l 簡單方便的儀器操作:一鍵操作即可完成復(fù)雜的樣品測量和分析;按照質(zhì)控要求進行數(shù)據(jù)多種導(dǎo)出,;豐富的模型庫和材料庫方便用戶的高級操作,;管理員/操作員不同的模式,保證儀器安全
技術(shù)參數(shù):
