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400導(dǎo)體材料四端測(cè)量高溫電阻率測(cè)試儀
400導(dǎo)體材料四端測(cè)量高溫電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料電阻,、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)測(cè)量需求.常用于金屬類導(dǎo)體材料及非金屬類導(dǎo)體材料測(cè)量.
型號(hào)： BX-Y1249A
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:31:18
對(duì)比
電阻率試驗(yàn)儀高精度電阻率測(cè)試儀導(dǎo)體電阻測(cè)試儀導(dǎo)體測(cè)電阻率導(dǎo)體測(cè)電阻率
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1200導(dǎo)體材料四端測(cè)量高溫電阻率測(cè)試儀
1200導(dǎo)體材料四端測(cè)量高溫電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料電阻,、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)測(cè)量需求.常用于金屬類導(dǎo)體材料及非金屬類導(dǎo)體材料測(cè)量.
型號(hào)： BX-Y1249F
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:29:34
對(duì)比
導(dǎo)體電阻測(cè)量高精度電阻率測(cè)試儀高溫電阻率測(cè)量?jī)x導(dǎo)體測(cè)電阻率電阻率試驗(yàn)儀
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200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...
型號(hào)： BX-Y1246
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:27:11
對(duì)比
電阻率測(cè)試儀四探針雙電電阻率測(cè)試儀
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400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...
型號(hào)： BX-Y1246A
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:24:56
對(duì)比
電阻率測(cè)試儀四探針雙電組合
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600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...
型號(hào)： BX-Y1246B
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:23:22
對(duì)比
四探針電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)試儀雙電組合電阻率測(cè)試儀
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800高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
800高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...
型號(hào)： BX-Y1246C
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:21:39
對(duì)比
電阻率測(cè)試儀雙電組合電阻率測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀電阻率儀
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1000高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
1000高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...
型號(hào)： BX-Y1246D
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:19:23
對(duì)比
雙電組合電阻率測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀高溫電阻率測(cè)試儀
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1200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
1200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...
型號(hào)： BX-Y1246E
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:17:47
對(duì)比
雙電組合電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)試儀高溫四探針電阻率測(cè)試儀
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1400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
1400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...
型號(hào)： BX-Y1246F
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:15:39
對(duì)比
雙電組合電阻率測(cè)試儀高溫四探針電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)試儀
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1600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
1600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...
型號(hào)： BX-Y1246G
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:13:29
對(duì)比
雙電組合電阻率測(cè)試儀高溫四探針電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)試儀電阻率儀
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200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...
型號(hào)： BX-Y1247
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:11:38
對(duì)比
四探針法電阻率測(cè)試四探針電阻率測(cè)試體積電阻率測(cè)試儀四探針測(cè)電阻率探針電阻率測(cè)試儀
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400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...
型號(hào)： BX-Y1247A
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:09:37
對(duì)比
四探針法電阻率測(cè)試四探針電阻率測(cè)試四探針測(cè)電阻率電阻率測(cè)試儀探針電阻率測(cè)試儀
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600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...
型號(hào)： BX-Y1247B
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:07:30
對(duì)比
高精度電阻率測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試電阻率測(cè)試儀四探針測(cè)電阻率探針電阻率測(cè)試儀
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800高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
800高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...
型號(hào)： BX-Y1247C
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:05:10
對(duì)比
電阻率測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試四探針測(cè)電阻率四探針測(cè)電阻率電阻率測(cè)試儀
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1000高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
1000高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...
型號(hào)： BX-Y1247D
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:03:06
對(duì)比
高精度電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀四探針測(cè)電阻率探針電阻率測(cè)試儀
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1200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
1200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...
型號(hào)： BX-Y1247E
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 10:01:01
對(duì)比
四探針電阻率測(cè)試儀系統(tǒng)高精度智能電阻率測(cè)試儀電阻率測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀探針電阻率測(cè)試儀
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1400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀
1400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...
型號(hào)： BX-Y1247F
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 9:59:21
對(duì)比
電阻爐測(cè)試儀雙電組合電阻率測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀系統(tǒng)四探針電阻率測(cè)試四探針測(cè)電阻率
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經(jīng)濟(jì)型數(shù)顯電壓降測(cè)試儀
經(jīng)濟(jì)型數(shù)顯電壓降測(cè)試儀1.插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降.從而判斷接線口優(yōu)劣.2.適用于測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn),、繼電器,、開關(guān)、線材線束,、壓接線端子,、連接器等...
型號(hào)： BX-Y1241A
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 9:57:50
對(duì)比
電壓降測(cè)試儀次壓降測(cè)試儀多功能電氣測(cè)試儀自動(dòng)阻抗測(cè)試儀電壓壓降測(cè)試儀
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100A實(shí)用型直流電壓降測(cè)試儀
100A實(shí)用型直流電壓降測(cè)試儀直流恒流源，電流可測(cè)試到1000A,；數(shù)顯壓降,，電流，電壓,；電流負(fù)載測(cè)量,測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn),、繼電器、開關(guān),、線材線束,、壓接線端子、連接器等...
型號(hào)： BX-Y1242
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 9:55:22
對(duì)比
壓降測(cè)量?jī)x直流電流監(jiān)測(cè)器電流電壓校驗(yàn)儀器測(cè)電流電壓的儀器電容電壓測(cè)試儀
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200A實(shí)用型直流電壓降測(cè)試儀
200A實(shí)用型直流電壓降測(cè)試儀直流恒流源,，電流可測(cè)試到1000A,；數(shù)顯壓降,，電流，電壓,；電流負(fù)載測(cè)量,測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn),、繼電器、開關(guān),、線材線束,、壓接線端子、連接器等...
型號(hào)： BX-Y1242A
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/5/15 9:53:01
對(duì)比
電壓降測(cè)試儀電能測(cè)試儀電流電壓校驗(yàn)儀器電壓電流功率測(cè)試儀電容電壓測(cè)試儀
