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電子天平芯片ADC分類(一)

閱讀:2830        發(fā)布時間:2012-5-9

 1,、逐次逼近類:該類型集成電路包括1個數模轉換器,、1個比較器,、1個逐次逼近寄存器與1個邏輯控制單元,。用比較器和計數邏輯器件完成轉換,,所需的時鐘周期與執(zhí)行轉換所需輸出位數相同,。

它的基本工作原理是:采樣輸入信號與已知電壓不斷進行比較,1個時鐘周期完成1位轉換,,N位轉換需要N個時鐘周期,,轉換完成,即輸出二進制數,。電子秤中采用該類型時,,需要注意在傳感信號進行模數轉換之前需要增益與濾波。

    電子天平逐次逼近類分為開關電容類,、流水線類,、多路輸入類。常見逐次逼近集成電路有ADC0808ADC08098位),、ADC121012位),、AD57412位)。

 

2,、-Δ類:該類型集成電路包括主要完成信號抽樣及增量編碼,,它給數字抽取濾波器提供增量編碼的模擬∑-Δ調制器與完成對∑-Δ碼的抽取濾波的數字抽取濾波器

  它的基本工作原理是:根據前一量值與后一量值的差值的大小來進行量化編碼。該類型集成電路主要應用于高精度數據采集系統(tǒng),、多媒體,、地震勘探儀器、聲納等電子測量域,。另外,,當轉換速率相同的條件下,∑-Δ類比積分型與逐次逼近型集成電路的功耗大

 

3.閃速類:該類型集成電路具有轉換速率zui快,、功耗大,、所需比較器數目大等特點

 

4、積分類:該類型中的雙積分式集成電路包括積分器,、零電壓比較器,、計數器、控制邏輯,、標準電壓等單元組成

   其基本工作原理:經過兩次積分將輸入的模擬電壓轉換成與其平均值成正比的時間間隔,同時,,在此時間間隔內利用計數器對時鐘脈沖進行計數,,以實現模擬轉換數字。該類型集成電路主要在中速/較低速,、中等精度的數據采集系統(tǒng)以及智能儀表一起中應用,。該類型集成電路具有分辨率高、功耗低,。抑交流噪聲強,、抑制高頻噪聲強、精度高,、轉換速度慢等特點,。積分法A/D轉換種類包括雙斜率、單斜率,、多謝率,。常見的雙積分AD類集成電路有MC14433(3 ICL7135(4 ).ICL7109(12

 

5,、壓頻變換類:該類型集成電路主要應用于中速/較低速,、中精度的數據采集與智能儀器儀表中

 

6、分級類:該類型集成電路主要應用于高度情況下的瞬態(tài)信號處理、視頻信號量化,、高速數據采集,、高速數字通信技術等域

 

7、流水線類:該類型集成電路包括一些級聯電路,,每一級電路又包括1個采樣/保持放大器,、1個低分率ADC1個求和電路,。N位轉換器分成兩端以上的子區(qū)來完成,。級電路的采樣/保持器對輸入信號取樣后,先由一個m位分辨率的A/D轉換器對輸入進行量化,,接著用一個至少n位精度的乘積型數模轉換器產生一個對應于量化結果的模擬電平,,并送至求和電路,求和電路從輸入信號中扣除此模擬電平,,并將差值放大某一固定增以后輸入下一級電路處理,。經過各級這樣的處理后,zui后由一個叫高精度的KA/D轉換器對殘余信號進行轉換,。

該類型集成電路具有低失調,、良好線性、高精度,、高分辨,、低功率、偏置結構復雜,、基準電路復雜等,。該類型集成電路主要應用于瞬態(tài)信號處理、高速數據采集,、視頻信號量化,、高速數字通信技術域。

脈動類:該類型集成電路主要應用于高速,、廣播衛(wèi)星中的基帶解調等

 

折疊類:該類型集成電路主要應用與高速,、廣播衛(wèi)星中的基帶解調等http://www.yajinsh.com/html/99.html

 

并行比較類:該類型集成電路包括電壓比較器、寄存器,、編碼器,。該類型集成電路幾本工作原理是:所有位轉換同時完成,其轉換時間主要取決于編碼器的傳輸時間延遲,、比較器的開關速度等,。該類型集成電路具有轉換速度快、價格高,,高速ADC大多采用這種結構,,而且分辨率不高,、功耗大,具有“火花碼”現象

 

技術式類:該類型集成電路具有結構簡單,、轉換速度慢,、精度低、實際應用少等特點

 

壓頻變換類“該類型集成電路基本工作原理是:先將輸入模擬信號的電壓轉換成頻率與其成正比的脈沖信號,,然后在固定的時間間隔內對次脈沖信號進行計數,,計數結果即為正比于輸入模擬電壓信號的數字量。該類型集成電路具有精度高,、價格較低,、功耗較低、轉換速率收到限制等特點

 

靜態(tài)ADC:一般是雙積分電路,、分辨率為16~20位等特點,。

 

動態(tài)ADC:一般是三積分電路等特點

 

直接法ADC:通過一套基準電壓與取樣保持電壓進行比較,從而直接轉換成數字量,。其特點是工作速度高,,轉換精度容易保證

 

間接法ADC:將取樣后的模擬信號先轉換成時間t或頻率f,然后再將tf轉換成數字量,。其特點是工作速度較低,,但轉換精度可以做的較高,且抗干擾性強,,一般在測試儀表中用的較多

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