儀器技術(shù)指標(biāo)：

·  恒電位槽壓：±30 V（可擴(kuò)展至±60 V）

·  輸出電流：±250 mA（可擴(kuò)展至±1.0 A）

·  恒電位控制：±12 V（動(dòng)態(tài)掃描范圍13 V）

·  分辨率：10.0 μV

·  電流靈敏度：1 nA/V～100 mA/V

·  參比電極輸入阻抗:  10¹² W

·  快速數(shù)據(jù)采集： 16位分辨@1MHz

·  CV和LSV掃描速度：0.000001V/s至10,000V/s

·  掃描時(shí)的電位增量：0.1mV（當(dāng)掃速為1,000V/s時(shí)）

·  CA和CC的脈沖寬度：0.0001至1000sec

·  CA和CC的小采樣間隔：1ms

·  CC模擬積分器

·  DPV和NPV的脈沖寬度：0.001至10sec

·  SWV頻率：1至100kHz

·  i-t的小采樣間隔：1ms

·  ACV頻率范圍：0.1至10kHz

·  SHACV頻率范圍：0.1至5kHz

·  FTACV頻率范圍：0.1至50Hz，可同時(shí)獲取基波,，二次諧波,，三次諧波，四次諧波,，五次諧波,，六次諧波的ACV數(shù)據(jù)

·  交流阻抗：0.00001至1MHz

·  交流阻抗波形幅度：0.00001V至0.7V均方根值

儀器系統(tǒng)功能：

1. 控制功能

·  電化學(xué)工作站接口方式：USB2.0接口

· 電位控制：恒電位、線性掃描,、循環(huán)掃描,、單電位階躍、多電位階躍,、脈沖,、方波,、交流波等；

· 電流控制：恒電流,、單電流階躍,、線性電流掃描、循環(huán)電流掃描,、多電流階躍等,；

· 開路電位及電位差測(cè)量；

· 外設(shè)控制：攪拌,、除氧,、旋轉(zhuǎn)電極、滴汞電極等,；

· 電極預(yù)處理,、后處理等；

· 實(shí)時(shí)顯示電位,、電流,、時(shí)間的數(shù)值以及它們之間的圖示關(guān)系?？v橫坐標(biāo)軸仿觸摸式的靈活縮放移動(dòng)等操作,。

2．實(shí)驗(yàn)方法

· 計(jì)時(shí)電流法、循環(huán)計(jì)時(shí)電流法,、計(jì)時(shí)庫侖法,、線性掃描伏安法、循環(huán)伏安法,、脈沖極譜（伏安）法,、方波伏安法、循環(huán)方波伏安法,、交流伏安法、各種溶出伏安法,、恒電位極化,、塔菲爾曲線等；

· 計(jì)時(shí)電位法,、多階躍計(jì)時(shí)電位法,、線性電流掃描計(jì)時(shí)電位法、循環(huán)計(jì)時(shí)電位法,、恒電流電解等,；

· 電化學(xué)阻抗測(cè)量：20種阻抗數(shù)據(jù)處理方法，包括三維阻抗圖譜,。

3．?dāng)?shù)據(jù)處理

· 濾波平滑：均值法,、小二乘法,、傅立葉變換法等；

· 常規(guī)數(shù)學(xué)運(yùn)算,；

· 數(shù)據(jù)插值,、分割等；

· 微積分及半微積分等,；

· 高級(jí)可視化基線處理,；

· 峰電流、峰電位及峰面積等高級(jí)可視化峰分析,；

· 高級(jí)可視化標(biāo)準(zhǔn)曲線分析等,；

· 電化學(xué)阻抗數(shù)據(jù)的各種處理方法及三維阻抗譜圖的繪制等。

4．?dāng)?shù)據(jù)交換與文件

· 使用XML為內(nèi)置數(shù)據(jù)格式,，為任何數(shù)據(jù)交換提供基礎(chǔ),；

· 多線程協(xié)同工作模式，集成多序列數(shù)據(jù),、多實(shí)驗(yàn),、多圖形、電子數(shù)據(jù)表格于一體的項(xiàng)目式管理,；

· 可通過文件和剪貼板輸出各種格式的數(shù)據(jù)和圖形,，包括豐富文本rtf、文本txt,、位圖bmp,、圖元文件wmf等。