是什么改變了物位儀表市場的現(xiàn)狀,！

——介可視_3D物位掃描儀改變儀表世界

 1,、目前的物位測量儀表
　　目前世界上各種物位測量技術(shù)的原理比較多,，包括：激光式,、雷達式,、超聲波式、重錘式,、射頻導(dǎo)納式,、電容式等。以上產(chǎn)品并不是*針對物料測量而設(shè)計的,，而且都是基于單點測量原理,。在料位測量方面,，應(yīng)用效果并不理想,，暴漏出諸多問題。因為,，物料始終是呈現(xiàn)不規(guī)則表面,。所以，測量始終是一個懸而未決的難題,。在實際使用中,，效果自然就不會理想。

2,、目前的工況環(huán)境難題
　　如煤粉倉,、石灰石粉倉、水泥倉和干灰倉等生產(chǎn)設(shè)備,，無法直接了解倉內(nèi)狀況,。通過長期的現(xiàn)場考察與分析，影響料位正確測量的因素有以下幾點：

1．粉末狀粉倉內(nèi)物料顆粒細小,，進粉時在倉內(nèi)呈彌漫狀態(tài),，細小粉塵飄揚，粉料堆密度小,，有粉與無粉的區(qū)別趨于模糊,，嚴(yán)重影響超聲波或其他電磁波法的測量，甚至導(dǎo)致失敗,。

2．各種物料的成份,、濕度等各不相同，導(dǎo)致其物理性質(zhì)出現(xiàn)差異,，尤其是位于不同高度位置的粉料堆密度相差很大,，無法用一個統(tǒng)一的物理量去衡量，對連續(xù)測量造成很大影響,。

3．倉內(nèi)不規(guī)則的出粉,、加粉、塌粉等現(xiàn)象,，其產(chǎn)生的機械力,，破壞性相當(dāng)大,，同時可以使倉內(nèi)傳感器支架產(chǎn)生彎曲、打折,，以至損壞設(shè)備,。
 
4．倉壁內(nèi)容易出現(xiàn)掛料現(xiàn)象，并且物料呈現(xiàn)凹凸不平的不規(guī)則表面,。很容易出現(xiàn)冒頂現(xiàn)象,，無法得出真實物位。由此可見,，料位測量是目前上一項難以克服的技術(shù)難題,。

【現(xiàn)有的高濃度粉體倉體測量一直都是物位儀表市場上zui難啃的一塊骨頭！】

現(xiàn)有物位測量技術(shù)對比1

現(xiàn)有物位測量技術(shù)對比2
超聲波物位計
優(yōu)點：非接觸　　　　　　局限：粉塵影響/凹凸面影響
非接觸式雷達料位計
優(yōu)點：非接觸　　　　　　局限：介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響
導(dǎo)波雷達物位計
優(yōu)點：對某個點的測量　　局限：介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響
激光物位計
優(yōu)點：非接觸　　　　　　局限：粉塵影響/凹凸面影響
射頻導(dǎo)納料位計
優(yōu)點：點接觸　　　　　　局限：介電常數(shù)有要求/時漂/溫漂/掛料/拉力
重錘式料位計
優(yōu)點：直接測量手動控制　局限：埋錘/亂繩
r射線式料位計
優(yōu)點：非接觸,、穩(wěn)定　　　局限：有污染
稱重式料位計
優(yōu)點：可以測量質(zhì)量體積　局限：抗震問題/物料面狀況不知/價格高

介可視_3D物位掃描儀讓測量讓測量告別缺陷,！

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