當前位置:上海右一儀器有限公司>>光譜色譜分析儀>>紫外分光光度計>> UV762雙光束紫外可見分光光度計UV762
品牌:上海儀電分析儀器有限公司(原上海精科科學分析儀器廠)
名稱:紫外可見分光光度計
型號:UV762
商品簡述:
該產品是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計,,采用了全新的光學系統(tǒng)設計、微機控制和處理數據,、大屏幕LCD中文窗口顯示操作菜單,、光譜圖和分析測試數據。具有光度測量,、自動掃描測量光譜,、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能,。分析靈敏度和度高,;光譜數據處理功能強,;采用中文人機對話、操作方便,,產品外形美觀大方,。該產品廣泛用于生物化學、環(huán)境監(jiān)測,、商品檢驗,、石油化工、黑色和有色冶金等領域,,使質量控制,、技術鑒定和科學研究所的基本設備。
主要特點:
● 全新的光學系統(tǒng)設計,,使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能,,雜散光和噪聲低,測光度和穩(wěn)定可靠性高,。
● *的氘燈和鎢燈安裝,、光源自動切換及自動尋找佳位置的設計和工作方式,使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便,、正確和安全,。
● 優(yōu)良的軟件設計和編制,使儀器有較強的光譜數據處理功能:自動掃描測量光譜,、多波長(1~3λ)測定,、動力學測定、1~3次曲線擬合,、1~4階導數光譜,、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
● 采用大屏幕中文窗口顯示,,具有良好的人機對話界面,。
技術指標:
● 波長范圍:200nm~1100nm
● 波長大允許誤差:±0.5nm
● 波長重復性:≤0.2nm
● 透射比大允許誤差:±0.5%(T)
● 透射比重復性:0.2%(T)
● 光譜帶寬:2nm
● 基線平直度:±0.004A(200nm~1000nm)
● 漂移:≤0.004A/h(500nm處,預熱2小時)
● 雜散光:≤0.15%(T)(在220nm處, 以NaI測定)(在360nm處,,以NaNO2測定)
其它:
● 電源:AC220V±22V 50Hz±1Hz
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