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激光導熱儀測試溫度范圍是從RT至1500度,使用的是: 碳化硅加熱器爐, 即使碳化硅zui高加熱器能加熱到1600度,，即使爐溫達到了1600度,，樣品溫度肯定沒有達到1600度，并且碳化硅棒加熱器在空氣中使用到800℃時開始氧化,，溫度達到1000－1300℃時,，發(fā)熱部表面生成一層二氧化硅保護膜，1300℃時結(jié)晶出石英,，在1500℃時,，保護膜達到一定的厚度，從而使組件的氧化速度變得極為緩慢,，趨于穩(wěn)定,。如果繼續(xù)升溫至1550℃以上時,則保護膜 受到破壞，氧化速度顯著增加,，造成碳化硅棒加熱器組件過早損壞,所以碳化硅加熱器爐只能測試到RT至1500度,但是探測器仍然是InSb紅外探測器,控制爐溫及測試樣品溫度是熱電偶.
2, 激光導熱儀測試溫度范圍是從RT至1600度,使用的是: 二硅化鉬加熱器爐, 二硅化鉬加熱器zui高加熱溫度能加熱到1800度,從而保證樣品能測試到1600度, 但是探測器仍然是InSb紅外探測器,控制爐溫及測試樣品溫度是熱電偶（注明:其它廠商沒有二硅化鉬加熱器爐）.
3, 激光導熱儀測試溫度范圍是從RT至2000度, 使用的是:石墨加熱爐（或鎢加熱爐）,但是石墨加熱爐生產(chǎn)成本比二硅化鉬加熱器爐貴進大慨叁萬美元,并且石墨加熱爐容易被氧化,所以必需抽真空或通保護性氣體,另外值得注意的是: 石墨加熱爐控制爐溫及測試樣品溫度必須使用光學高溫計,不能使用熱電偶,因為熱電偶不能耐受1700度以上溫度,但是普通光學高溫計不能測試出RT-900度數(shù)據(jù),如果測試RT至2000度使用普通光學高溫計測試900-2000度數(shù)據(jù),使用熱電偶測試RT-800數(shù)據(jù),它們之間不但相互更換繁瑣,且石墨爐對熱電偶有污染,造成使用成本加大（注明:美國安特公司解決此技術(shù)難題,使用的是黑體光學高溫計, 黑體光學高溫計可以連續(xù)測量、光滑覆蓋從室溫到2800℃測溫數(shù)據(jù),一次性測試出結(jié)果數(shù)據(jù)）.
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