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介質(zhì)損耗因數(shù)的介質(zhì)損耗
閱讀：2002 發(fā)布時(shí)間：2016-7-19
介質(zhì)損耗因數(shù)的介質(zhì)損耗
1,、介質(zhì)損耗
什么是介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場(chǎng)作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),，在其內(nèi)部引起的能量損耗,。也叫介質(zhì)損失，簡(jiǎn)稱介損,。
2,、介質(zhì)損耗角δ
在交變電場(chǎng)作用下，電介質(zhì)內(nèi)流過(guò)的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角(δ),。 簡(jiǎn)稱介損角,。
3、介質(zhì)損耗正切值tgδ
又稱介質(zhì)損耗因數(shù),，是指介質(zhì)損耗角正切值,，簡(jiǎn)稱介損角正切。介質(zhì)損耗因數(shù)的定義如下:
如果取得試品的電流相量和電壓相量,，則可以得到如下相量圖：
總電流可以分解為電容電流Ic和電阻電流IR合成,，因此：
這正是損失角δ=(90°-Φ)的正切值。因此現(xiàn)在的數(shù)字化儀器從本質(zhì)上講,，是通過(guò)測(cè)量δ或者Φ得到介損因數(shù),。 測(cè)量介損對(duì)判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法,。絕緣能力的下降直接反映為介損增大,。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因，如：絕緣受潮、絕緣油受污染,、老化變質(zhì)等等,。測(cè)量介損的同時(shí)，也能得到試品的電容量,。如果多個(gè)電容屏中的一個(gè)或幾個(gè)發(fā)生短路,、斷路，電容量就有明顯的變化,，因此電容量也是一個(gè)重要參數(shù),。
4、功率因數(shù)cosΦ功率因數(shù)是功率因數(shù)角Φ的余弦值,，意義為被測(cè)試品的總視在功率S中有功功率P所占的比重,。功率因數(shù)的定義如下:
4、功率因數(shù)cosΦ功率因數(shù)是功率因數(shù)角Φ的余弦值,，意義為被測(cè)試品的總視在功率S中有功功率P所占的比重,。功率因數(shù)的定義如下:
有的介損測(cè)試儀習(xí)慣顯示功率因數(shù)(PF:cosΦ)，而不是介質(zhì)損耗因數(shù)(DF:tgδ),。一般cosΦ<tgδ,，在損耗很小時(shí)這兩個(gè)數(shù)值非常接近。
5,、高壓電容電橋高壓電容電橋的標(biāo)準(zhǔn)通道輸入標(biāo)準(zhǔn)電容器的電流,、試品通道輸入試品電流。通過(guò)比對(duì)電流相位差測(cè)量tgδ,，通過(guò)出比電流幅值測(cè)量試品電容量,。因此用電橋測(cè)量介損還需要攜帶標(biāo)準(zhǔn)電容器、升壓PT和調(diào)壓器,。接線也十分煩瑣,。
6、高壓介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x 簡(jiǎn)稱介損儀,，是指采用電橋原理,，應(yīng)用數(shù)字測(cè)量技術(shù)，對(duì)介質(zhì)損耗角正切值和電容量進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量的一種新型儀器,。一般包含高壓電橋,、高壓試驗(yàn)電源和高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器三部分。 AI-6000利用變頻抗干擾原理,，采用傅立葉變化數(shù)字波形分析技術(shù),，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電流和試品電流進(jìn)行計(jì)算，抑制*力強(qiáng),，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確穩(wěn)定,。
7,、外施使用外部高壓試驗(yàn)電源和標(biāo)準(zhǔn)電容器進(jìn)行試驗(yàn),，對(duì)介損儀的示值按一定的比例關(guān)系進(jìn)行計(jì)算得到測(cè)量結(jié)果的方法。
8、內(nèi)施使用介損儀內(nèi)附高壓電源和標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行試驗(yàn),，直接得到測(cè)量結(jié)果的方法,。
9、正接線用于測(cè)量不接地試品的方法,，測(cè)量時(shí)介損儀測(cè)量回路處于地電位,。
10、反接線用于測(cè)量接地試品的方法,，測(cè)量時(shí)介損儀測(cè)量回路處于高電位,，他與外殼之間承受全部試驗(yàn)電壓。
11,、常用介損儀的分類現(xiàn)常用介損儀有西林型和M型兩種,，QS1和AI-6000為西林型。
12,、常用抗干擾方法 在介質(zhì)損耗測(cè)量中常見(jiàn)抗干擾方法有三種： 倒相法,、移相法和變頻法。AI-6000采用變頻法抗干擾,，同時(shí)支持倒相法測(cè)量,。
13、準(zhǔn)確度的表示方法tgδ：±（1%D+0.0004） Cx：±（1%C+1pF） +前表示為相對(duì)誤差,，+后表示為誤差,。相對(duì)誤差小表示儀器的量程線性度好，誤差小表示儀器的誤差起點(diǎn)低,。校驗(yàn)時(shí)讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)值的差應(yīng)小于以上準(zhǔn)確度,，否則就是超差。
14,、抗干擾指標(biāo)抗干擾指標(biāo)為滿足儀器準(zhǔn)確度的前提下,，干擾電流與試驗(yàn)電流的zui大比例，比例越大,，抗干擾性能越好,。AI-6000在200%干擾（即I干擾/ I試品≤2）下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度。
5,、高壓電容電橋高壓電容電橋的標(biāo)準(zhǔn)通道輸入標(biāo)準(zhǔn)電容器的電流,、試品通道輸入試品電流。通過(guò)比對(duì)電流相位差測(cè)量tgδ,，通過(guò)出比電流幅值測(cè)量試品電容量,。因此用電橋測(cè)量介損還需要攜帶標(biāo)準(zhǔn)電容器、升壓PT和調(diào)壓器,。接線也十分煩瑣,。
6、高壓介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x 簡(jiǎn)稱介損儀,，是指采用電橋原理,，應(yīng)用數(shù)字測(cè)量技術(shù)，對(duì)介質(zhì)損耗角正切值和電容量進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量的一種新型儀器,。一般包含高壓電橋,、高壓試驗(yàn)電源和高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器三部分。 AI-6000利用變頻抗干擾原理,，采用傅立葉變化數(shù)字波形分析技術(shù),，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電流和試品電流進(jìn)行計(jì)算，抑制*力強(qiáng),，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確穩(wěn)定,。
7,、外施使用外部高壓試驗(yàn)電源和標(biāo)準(zhǔn)電容器進(jìn)行試驗(yàn),，對(duì)介損儀的示值按一定的比例關(guān)系進(jìn)行計(jì)算得到測(cè)量結(jié)果的方法。
8、內(nèi)施使用介損儀內(nèi)附高壓電源和標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行試驗(yàn),，直接得到測(cè)量結(jié)果的方法,。
9、正接線用于測(cè)量不接地試品的方法,，測(cè)量時(shí)介損儀測(cè)量回路處于地電位,。
10、反接線用于測(cè)量接地試品的方法,，測(cè)量時(shí)介損儀測(cè)量回路處于高電位,，他與外殼之間承受全部試驗(yàn)電壓。
11,、常用介損儀的分類現(xiàn)常用介損儀有西林型和M型兩種,，QS1和AI-6000為西林型。
12,、常用抗干擾方法 在介質(zhì)損耗測(cè)量中常見(jiàn)抗干擾方法有三種： 倒相法,、移相法和變頻法。AI-6000采用變頻法抗干擾,，同時(shí)支持倒相法測(cè)量,。
13、準(zhǔn)確度的表示方法tgδ：±（1%D+0.0004） Cx：±（1%C+1pF） +前表示為相對(duì)誤差,，+后表示為誤差,。相對(duì)誤差小表示儀器的量程線性度好，誤差小表示儀器的誤差起點(diǎn)低,。校驗(yàn)時(shí)讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)值的差應(yīng)小于以上準(zhǔn)確度,，否則就是超差。
14,、抗干擾指標(biāo)抗干擾指標(biāo)為滿足儀器準(zhǔn)確度的前提下,，干擾電流與試驗(yàn)電流的zui大比例，比例越大,，抗干擾性能越好,。AI-6000在200%干擾（即I干擾/ I試品≤2）下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度。