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KP Technology掃描開爾文探針-材料表征
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢,，表面功函,。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù),。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測試系統(tǒng),。

KP Technology掃描開爾文探針-材料表征

主要特點(diǎn)：
● 功函分辨率< 3meV
● 掃描面積：5mm to 300mm（四種型號(hào)，每種型號(hào)掃描面積不同）
● 掃描分辨率：317.5nm
● 自動(dòng)高度調(diào)節(jié)
應(yīng)用領(lǐng)域：
● 有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機(jī)光伏材料
● 腐蝕
升級(jí)附件：
● 大氣光子發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針,，直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮?dú)猸h(huán)境箱