廣泛用于鍍層厚度的測量,、電鍍液濃度的測量,。

X熒光光譜測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法,。樣品在受到X射線照射時,，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線,；探測器探測到這些特征X射線后,，將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機(jī)進(jìn)行處理；計算機(jī)獨有的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度,。

它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理,；分析時間短,，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度,；分析測量動態(tài)范圍寬,，可從0.005μm到60μm。

鍍層測厚儀配置

開放式樣品腔,。
精密二維移動樣品平臺,，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動,。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器,。
信號檢測電子電路,。
高低壓電源。
X光管,。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計算機(jī)及噴墨打印機(jī)

鍍層測厚儀應(yīng)用

黃金,，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定,。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu),；電鍍行業(yè),。