價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
工作原理
X光方法測定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用,。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射,,這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知,,則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系,。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,,同時(shí)又給出實(shí)際的密度,,則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。
江蘇地區(qū)銷售X光鍍層測厚儀性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測試點(diǎn),,重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,,可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑,,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
江蘇地區(qū)銷售X光鍍層測厚儀技術(shù)指標(biāo)
型號(hào):Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U),。
同時(shí)可以分析30種以上元素,,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型,。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
部分產(chǎn)品
X射線熒光測厚儀,X射線鍍層測厚儀,,x光鍍層測厚儀,, 國產(chǎn)鍍層測厚儀,X熒光鍍層測厚儀廠家,,國產(chǎn)X熒光鍍層測厚儀,,x光鍍層測厚儀,X射線鍍層測厚儀價(jià)格,,天瑞鍍層測厚儀,, XRF鍍層測厚儀,國產(chǎn)電鍍層測厚儀,,X熒光鍍層測厚儀,,電鍍層測厚儀,x射線熒光鍍層測厚儀,, x熒光鍍層測厚儀價(jià)格,,金屬鍍層測厚儀,X熒光電鍍層測厚儀,,鍍層膜厚測試儀,,無損金屬鍍層測厚儀,X光電鍍層測厚儀,,X熒光鍍層測厚儀品牌,,鍍層測厚儀,X射線金屬鍍層測厚儀,,x射線電鍍層測厚儀,,電鍍鍍層測厚儀,國產(chǎn)X射線鍍層測厚儀,,xrf鍍層膜厚測試儀,,X熒光鍍層膜厚儀,X射線鍍層膜厚儀,。
應(yīng)用領(lǐng)域
X光鍍層測厚儀廣泛應(yīng)用在黃金,,鉑,,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定,主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),;銀行,,首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè),同時(shí)在電子電器,、五金工具,、國家電網(wǎng)企業(yè)、高壓開關(guān),、衛(wèi)浴等企業(yè)廣泛應(yīng)用,。
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),,探測器和X光管上下可動(dòng),,實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測器。
信號(hào)檢測電子電路,。
高低壓電源。
X光管,。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)