x熒光測金屬厚度設(shè)備技術(shù)指標(biāo)

型號：Thick 800
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。
同時可以分析30種以上元素,，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型,。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

x熒光測金屬厚度設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,，探測器和X光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動,。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路,。
高低壓電源,。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計算機(jī)及噴墨打印機(jī)

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動平臺可定位測試點(diǎn),，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺,，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)