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X熒光光譜儀XRF技術(shù)原理與工作流程詳解
閱讀：1520 發(fā)布時(shí)間：2024-4-5
X熒光光譜儀XRFX是一種用于元素分析的儀器,，可以檢測(cè)樣品中的元素種類(lèi)和含量,。 
一,、技術(shù)原理
X熒光光譜儀XRFX基于X射線熒光的原理,。當(dāng)樣品受到高能X射線照射時(shí),，樣品中的原子會(huì)被激發(fā)并發(fā)射出二次X射線，這種現(xiàn)象稱(chēng)為X射線熒光,。每種元素的原子都有熒光發(fā)射譜線,，因此可以通過(guò)測(cè)量這些譜線的強(qiáng)度來(lái)確定樣品中元素的種類(lèi)和含量,。
二,、工作流程
1.樣品準(zhǔn)備：將樣品置于樣品臺(tái)上，確保樣品表面平整并與探測(cè)器相對(duì),。
2.激發(fā)源產(chǎn)生：光譜儀中的X射線管產(chǎn)生高能X射線,，照射到樣品上。
3.熒光發(fā)射：樣品中的原子吸收X射線能量后,，被激發(fā)到高能級(jí),。當(dāng)原子退回到低能級(jí)時(shí)，會(huì)發(fā)射出具有特定波長(zhǎng)的熒光X射線,。
4.信號(hào)檢測(cè)：探測(cè)器接收樣品發(fā)射的熒光X射線,，將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。
5.數(shù)據(jù)處理：將探測(cè)器收集到的電信號(hào)進(jìn)行放大,、數(shù)模轉(zhuǎn)換等處理,，得到樣品中各元素的強(qiáng)度數(shù)據(jù)。
6.結(jié)果分析：根據(jù)各元素的熒光強(qiáng)度,，通過(guò)預(yù)先建立的標(biāo)準(zhǔn)曲線或校準(zhǔn)模型,，計(jì)算出樣品中各元素的含量。
三,、特點(diǎn)
1.分析速度快：可以在幾分鐘內(nèi)同時(shí)分析樣品中的多種元素,。
2.分析范圍廣：可以分析從Na到U的大部分元素。
3.靈敏度高：可以檢測(cè)到ppm甚至ppb級(jí)別的元素含量,。
4.非破壞性：對(duì)樣品無(wú)損傷,，適合于珍貴文物、藝術(shù)品等樣品的分析,。
X熒光光譜儀XRFX是一種重要的元素分析儀器,，它基于X射線熒光的原理，通過(guò)一系列工作流程,，可以快速,、準(zhǔn)確地分析樣品中的元素種類(lèi)和含量。