X熒光鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用
1.一般要求
使用可靠的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器,。最后的測量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測量不確定度和測量精度,。
參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層,,如果是合金,,則應(yīng)知其組成,。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層,,規(guī)定以厚度為單位(而不是單位面積質(zhì)量)的標(biāo)準(zhǔn)塊,,將是可靠的,。合金組成的測定,校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同,,但應(yīng)當(dāng)已知,。
金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片,,就必須注意確保接觸清潔,,無皺折紐結(jié)。任何密度差異,,除非測量允許,,否則必須進(jìn)行補償后再測。
2.標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇
可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器,,厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正,。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料,但對試樣基材為合金成分的,,有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測試樣基材不同,,但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。
3.標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射(或吸收)特性及使用
校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射(或吸收)特性,。
如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定,,則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性,通過比較被測試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度,,然后通過軟件達(dá)到對儀器的校正,。