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X熒光測厚儀采用二次熒光法的原理及性能特點(diǎn)
閱讀：2084 發(fā)布時(shí)間：2021-5-19
X熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器,，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成,、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確,、快速的分析?；谖④浿形囊暣跋到y(tǒng)的中文版應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對CMI主機(jī)的全面自動(dòng)化控制,，分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定,。可同時(shí)測定多種元素,。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,，以滿足特定分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表,、測定位置的圖象,、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值,、誤差分析,、大值、小值,、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍,、相對偏差等多種數(shù)據(jù)分析模式。
X熒光測厚儀采用二次熒光法：它的原理是物資經(jīng)X射線或粒子射線照射后,，由于吸收過剩的能量而釀成不穩(wěn)定的狀態(tài),。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物資必需將過剩的能量釋放出來,，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來,。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析,。
X熒光測厚儀性能特點(diǎn)
1,、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
2、0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
3,、高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn),，重復(fù)定位精度小于0.005mm
4、采用高度定位激光,，可自動(dòng)定位測試高度
5,、定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
6,、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺,，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
7、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
8,、良好的射線屏蔽作用
9,、測試口高度敏感性傳感器保護(hù)