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X射線熒光光譜儀的優(yōu)點
閱讀：2057 發(fā)布時間：2019-11-14
X射線熒光光譜儀（XRF）是一種快速的、非破壞式的物質測量方法,。
XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內層電子被擊出后,，造成核外電子的躍遷,，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出特征X光,；不同的元素會放射出各自的特征X光,，具有不同的能量或波長特性。檢測器(Detector)接受這些X光,，儀器軟件系統(tǒng)將其轉為對應的信號,。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在研究金屬,，玻璃,，陶瓷和建筑材料,，以及在地球化學研究、法醫(yī)學,、電子產品進料品管（EURoHS）和考古學等領域,，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補，減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入,。
X射線熒光光譜儀優(yōu)點:
a) 分析速度高,。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短,，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素,。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體,、粉末,、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系,。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著,。波長變化用于化學位的測定 ,。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變,，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象,。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好,。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高,。
f) 制樣簡單,，固體、粉末,、液體樣品等都可以進行分析。