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X射線(xiàn)熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)介紹
閱讀：3510 發(fā)布時(shí)間：2018-6-25
X射線(xiàn)熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快,，靈敏度高的特點(diǎn),。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體,、粉末,、熔融片,，液體等，分析對(duì)象,，適用于煉鋼,、有色金屬、水泥,、陶瓷,、石油、玻璃等行業(yè)樣品,。特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛,。
X射線(xiàn)熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)：
1) 分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),，但一般都很短,，10～300秒就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
2) X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),，而且跟固體,、粉末、液體及晶質(zhì),、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系,。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內(nèi),，這種效應(yīng)更為顯著,。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
3) 非破壞分析,。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,，結(jié)果重現(xiàn)性好,。
4) X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,。
5) 分析精密度高,。目前含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。
6) 制樣簡(jiǎn)單,，固體,、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析,。
EDX-1800能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀應(yīng)用于RoHS & WEEE指令分析,、各種金屬膜厚度測(cè)量、工業(yè)鍍層厚度測(cè)量,、鹵素指令Cl元素分析,、礦石、原材料成份分析等,、磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體以及各種合金,、貴金屬成份分析.