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X射線熒光光譜儀的優(yōu)點介紹
閱讀：3533 發(fā)布時間：2018-6-25
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快,，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體,、粉末、熔融片,，液體等,，分析對象,，適用于煉鋼、有色金屬,、水泥,、陶瓷、石油,、玻璃等行業(yè)樣品,。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。
X射線熒光光譜儀的優(yōu)點：
1) 分析速度快,。測定用時與測定精密度有關,，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素,。
2) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關,，而且跟固體、粉末,、液體及晶質,、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象,。特別是在超軟X射線范圍內,，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 ,。
3) 非破壞分析,。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象,。同一試樣可反復多次測量,，結果重現性好。
4) X射線熒光分析是一種物理分析方法,，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,。
5) 分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別,。
6) 制樣簡單,，固體、粉末,、液體樣品等都可以進行分析,。
EDX-1800能量色散X射線熒光光譜儀應用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量,、工業(yè)鍍層厚度測量,、鹵素指令Cl元素分析、礦石,、原材料成份分析等,、磁性磁性介質和半導體以及各種合金,、貴金屬成份分析.