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X熒光光譜儀的優(yōu)缺點介紹
閱讀：3042 發(fā)布時間：2017-6-29
X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成,。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線）,，激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線）,，探測器對X熒光進(jìn)行檢測,。近年來X熒光光譜儀在各個行業(yè)領(lǐng)域中不斷拓展,，已經(jīng)為廣泛應(yīng)用于治金,、地質(zhì),、環(huán)保、建材等領(lǐng)域中,。
X熒光光譜儀的優(yōu)缺點：
1,、優(yōu)點
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān),，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素,。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體,、粉末,、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒關(guān)系（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 ,。
c) 非破壞分析,。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象,。同一試樣可反復(fù)多次測量,，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單,，固體,、粉末、液體等都可以進(jìn)行分析,。
2,、缺點
a）難于作分析，所以定量分析需要標(biāo)樣,。
b）對輕元素的靈敏度要低一些,。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。