(1)激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大,，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，涵蓋行業(yè)廣泛,，可實(shí)現(xiàn)濕法,、干法、噴霧以及在線測(cè)量，也是當(dāng)下zui常用的粒度檢測(cè)儀器,。缺點(diǎn)：數(shù)據(jù)模型以及算法參數(shù)影響較大,，成本相對(duì)較高。

(2)靜態(tài)圖像法：由顯微鏡,、攝像機(jī)和圖像分析軟件組成,。優(yōu)點(diǎn)：成本較低，操作簡(jiǎn)單,，圖像清晰,、可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析,。缺點(diǎn)：分析速度慢（制作標(biāo)本等工序）,，無法分析細(xì)顆粒（如<1μm）。 

(3)動(dòng)態(tài)圖像法：由顯微鏡,、高速攝像機(jī),、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成,。優(yōu)點(diǎn)：顆粒圖像直觀清晰,，操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快,、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,，可干法也可濕法，可測(cè)量zui大顆粒,，可進(jìn)行圓形度,、長(zhǎng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn)：分析細(xì)顆粒（如<1μm）圖像不清晰,，誤差較大,，成本較高。

(4)電鏡法：用電子顯微鏡（掃描電鏡或透射電鏡）拍攝顆粒圖像,，然后再進(jìn)行圖像分析的方法。優(yōu)點(diǎn)：能分析納米顆粒和超細(xì)顆粒,，圖像清晰,，表面紋理可見，分辨率高,，是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法,。缺點(diǎn)：?jiǎn)畏鶊D像中的顆粒數(shù)少、代表性差,、儀器價(jià)格昂貴,。

(5)篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀,、設(shè)備造價(jià)低,，常用于大于38μm（400目）的樣品,。缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大,。

(6)沉降法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便,，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格較低,，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),，操作較復(fù)雜,，結(jié)果易受環(huán)境因素影響。

(7)光阻法：優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試速度快,，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù),，分辨力高，樣品用量少,。缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,，不適用粒徑<1μm的樣品。

(8)電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便,，可測(cè)顆粒數(shù),，等效概念明確，速度快,，準(zhǔn)確性好,。缺點(diǎn)：不適合測(cè)量超細(xì)樣品和寬分布樣品，更換小孔管比較麻煩,。

(9)超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量,，無需取樣。缺點(diǎn)：分辨率較低,，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差,，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。

(10)透氣法（費(fèi)氏法）：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低,，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散,，可直接測(cè)量干粉，可測(cè)磁性材料粉體,。缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值,，不能測(cè)粒度分布。