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電子連接器接觸電阻測試方法
閱讀：5034 發(fā)布時間：2011-10-31
EIA工程標準和出版物是為服務于公眾利益而制定的,它是為了消除生產者和購買者之間的誤解,促進產品的交流和提高,并幫助購買者在zui短時間內挑選到他所需要的滿意的產品﹒該標準的提出會促使EIA的成員在生產和銷售產品時遵循該標準﹐而它也可以由國內外非EIA成員自愿使用﹒
對于推薦標準和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在選取時未考慮其內容,故在此過程中EIA對任何所有者不承擔責任﹐對任何采用該標準的機構也不承擔責任﹒
電子工業(yè)協會（EIA）工程部出版
2001年華盛頓D.C.20006,，N.W. Eye大街,。
1985年印刷
EIA版權所有
U.S.A印制
電子工業(yè)協會測試方法#23A
電子連接器的接觸電阻測試方法
| 此EIA推薦標準是基于電子技術委員會（IEC）的技術內容;推薦512—2, 測試2a, 接觸電阻－毫伏測試方法,1976.它符合此IEC推薦的所有必要方面. |
電子工業(yè)協會測試方法#23A
電子連接器低等位接觸電阻測試方法
（摘自EIA建議標準654-A﹐EIA P-5.1工作組組織提出﹒）
注：此TP-23早期頒布EIA RS-364
1.0 TP-23低等位接觸電阻
2.0 目的
本方法是介紹一種在標準方法測量一配套端子,，在絕緣層沒有被破壞或熔化的情況下的接觸電阻。
3.0 樣品準備
3.1 測試樣品由一對配合的端子組成,，如一個錫腳和一焊座﹐極性相反的相配套端子或印刷電路板和它的配合端子,。
3.2 用規(guī)格中所說明的電線按圖2A所示進行聯機﹐端子配合如圖2B所示﹒
3.3 測試樣品應組裝成能進行正常工作的連接器﹐不能安裝成連接器的樣品不得以任何其它方法強行安裝，若強行安裝會影響相配端子內接觸面的強力,。
4.0 測試方法
4.1 測試儀器
測試儀器包括﹕
4.1.1 滿偏量程至±2％或確切讀數至±10％的合適范圍的毫伏表,。
4.1.2 一個低等位回路具備傳遞和準確測量zui大電流100mA和zui大開路電位20 mV的能力。圖1所示的一種可行的回路（此回路輸出測試電流為1mA）,，對于交流測量﹐此頻率不超過2KHz﹒
4.1.3 測量可用直流或交流電進行﹐但無論如何﹐應當控制直流測試,。
4.2 測試步驟
4.2.1 連接測試樣品T1和T2。
4.2.2 在測試回路正方向上加電壓﹐并紀錄電壓降包括電壓Vf和電流If的極性,。
4.2.3 在測試回路反方向上加電壓﹐并紀錄電壓降包括電壓Vr和電流Ir的極性。
4.2.4 接觸電阻等于正反方向壓降的差的值除以正向電流和反向電流值之和,，公式如下﹕
R＝|Vf－Vr |/（|If|+| Ir |）
其中﹕ R=接觸電阻 單位﹕奧姆
Vf =正向壓降包括極性 單位﹕伏特
Vr =反向壓降包括極性 單位﹕伏特
If =正向測試電流 單位﹕安培
Ir =反向測試電流 單位﹕安培
4.2.5 預防措施
4.2.5.1 測試前或測試期間﹐測試樣品加壓不得超過20mV,。
4.2.5.2 導線總電阻（包括接觸端和主要電阻）應不少于100mΩ。
4.2.5.3 在任何預先狀態(tài)和環(huán)境暴露之間低壓電阻測試完成前﹐不可以中斷端子接觸,。
5.0 細節(jié)說明
當按規(guī)格進行測試時,下列細節(jié)要被說明﹕
（a） 被測樣品數目﹔
（b） 導線的類型和尺寸﹔
（c） 電阻的要求﹔
（d） 尺寸Y－Y（見圖2A）
6.0 參考文件
數據窗體應包括﹕
（a）測試標題﹔
（b）樣品描述﹔
（c）所用測試儀器﹔
（d）測試步驟﹔
（e）評估和觀測﹔
（f）測試日期和操作者姓名﹔
（g）樣品分析,。