單晶樣品的晶體定向是單晶生長之后的重要工作內容之一。近期,，日本Pulstec公司發(fā)布的新一代X射線單晶定向系統（型號：s-Laue）,，采用了新型的圓形全二維面探測器技術，使得設備的構造大大簡化,，具有操作簡單,、測試效率高（典型測試時間為60秒）、占地面積小等諸多技術特色,。日本Pulstec公司可提供臺式和便攜式(待發(fā)布)兩種類型的單晶定向系統,，臺式機可滿足實驗室對小樣品進行單晶定向的需求，便攜式設備也可以用于大型零件的現場晶體定向應用需求,。

為便于廣大客戶全面了解和親身體驗新一代X射線單晶定向系統（型號：s-Laue）,，Quantum Design中國公司引進了s-Laue樣機，目前該設備已安裝于我司實驗室并完成調試,。即日起,，我們歡迎對該設備感興趣的老師和同學來樣、來訪,，我們在QD中國樣機實驗室恭候大家的到來,！

應用案例：

Al₂O₃單晶樣品獲得的勞厄斑點

Si單晶樣品獲得的勞厄斑點

已有用戶：

東京工業(yè)大學

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1,、新一代X射線單晶定向系統-s-Laue：http://sorrent.com.cn/st166724/product_37361430.html