磁隨機存儲器（Magnetic random access memory，MRAM）是種用讀取磁阻大小為原理的新型非易失性（Non-Volatile）隨機存儲器，與其他存儲技術相比，MRAM在速度、面積、寫入次數(shù)和功耗方面能夠達到較好的折中,，被業(yè)界認為是構建下代非易失性緩存和主存的潛在存取器件之。因此,，近些年來MRAM引起了不少科研機構和企業(yè)的關注,，相應的測試設備需求也隨之增加，而Hprobe公司生產(chǎn)的IBEX-300晶圓超快三維磁場探針臺為個不錯的選擇,。

IBEX-300晶圓超快三維磁場探針臺

    與傳統(tǒng)的探針臺相比,，IBEX-300是門用于晶圓片在磁場下的表征和測試的儀器。它基于三維磁場發(fā)生裝置來進行超快的磁阻測試,，整個測試過程全自動完成,，可以根據(jù)用戶的測試需要來自定義測試程序，為磁性器件（傳感器和存儲器）的開發(fā),、工藝和生產(chǎn)帶來了完整的測試解決方案,。

主要應用方向：

• 磁性隧道結
• 磁隨機存取存儲器
• 集成磁傳感器(Hall, GMR, TMR)
• 智能傳感器 

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主要測試模式：

• 開路/短路 測試
• AC/DC I-V, R-V 測試
• AC/DC 擊穿電壓測試
• 讀/寫脈沖測試
• R-H 角度/幅值 回線測試
• 誤碼率測試
• 器件循環(huán)和穩(wěn)定性測試

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三維磁場發(fā)生裝置

超快磁場掃描 

    三維磁場發(fā)生裝置可以實現(xiàn)各磁場空間軸的立驅(qū)動，也可以控制磁場在任意空間方向,，以及產(chǎn)生旋轉磁場等,。磁場的掃描采樣速率可由靜態(tài)磁場控制到幅值超過10,000步/秒。

測試程序界面

良率測試結果示意圖

    目前Hprobe公司已經(jīng)向多個半導體工廠交付了IBEX-300三維磁場探針臺,，同時面向客戶開放部分樣品測試,。