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2018年度“亞洲磁學(xué)聯(lián)盟獎”(AUMS Award)于6月4日在韓國揭曉,,物理所韓秀峰研究員憑借“基于磁性緣體的磁子閥效應(yīng)”項(xiàng)目榮獲此獎,。韓秀峰研究員團(tuán)隊(duì)創(chuàng)新性地采用YIG磁性緣體作為磁性電、Au作為中間層研制出了高質(zhì)量,、新型磁性緣體/金屬/磁性緣體(MI/NM/MI)磁子閥結(jié)構(gòu),,并且在該結(jié)構(gòu)中觀測和發(fā)現(xiàn)了磁子閥效應(yīng)(Magnon Valve Effect),揭示了磁子閥比值主要取決于磁性緣體/金屬界面磁子-電子自旋轉(zhuǎn)換效率的原理,。[1]
圖1 (a) 磁子閥結(jié)構(gòu),、原理和測量示意圖
(b)-(c) GGG/YIG和YIG/Au/YIG區(qū)域的透射電鏡照片
該項(xiàng)工作的相關(guān)研究進(jìn)展發(fā)表在 Phys. Rev. Lett.[2],并且作為亮點(diǎn)文章在PRL頁重點(diǎn)推薦,。在此我們祝賀Quantum Design的PPMS和MicroSense VSM用戶韓秀峰研究員團(tuán)隊(duì),,也祝愿他們今后能夠再創(chuàng)輝煌!
在上述的研究中,,YIG作為磁性緣體材料,,有著其*的物理性能,其擁有低的Gilbert阻尼因子,。Sun[3]等用鐵磁共振系統(tǒng)對YIG薄膜進(jìn)行了阻尼的測試研究,,測出YIG的阻尼因子大小約10-4。在對磁性材料的研究中,,阻尼因子α是個(gè)比較重要的參數(shù),,可以幫助我們提升電路及電子器件的傳輸效率和傳輸速度。
圖2 鐵磁共振測試系統(tǒng)主機(jī):PhaseFMR(常溫),;CryoFMR(低溫)
QuantumDesign攜手NanOsc提供的高精度鐵磁共振測試系統(tǒng),,可以快速有效地獲取阻尼系數(shù)α,以及有效磁矩 Meff,、旋磁比γ,、非均勻展寬ΔHo等動態(tài)磁學(xué)參數(shù),也可以表征靜態(tài)磁學(xué)性能,,如飽和磁化強(qiáng)度Ms,、各向異性、交換偏置等,。該系統(tǒng)基于共面波導(dǎo)技術(shù),,無需矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,,可以提供寬頻2~40GHz測試,并應(yīng)用鎖相測試技術(shù),,大大提高了信噪比,,可以測試到1.4nm厚的薄膜。
圖3 室溫測試用共面波導(dǎo)
圖4 用于PPMS(VersaLab)鐵磁共振樣品桿
圖5 Montana低溫恒溫器升CryoFMR鐵磁共振測試系統(tǒng)
目前該系統(tǒng)可以應(yīng)用于室溫(基于電磁鐵平臺),、低溫(配合PPMS,、VersaLab、Montana恒溫器),,在上有包括中國科學(xué)院物理研究所,、南京理工大學(xué)、三峽大學(xué)等用戶在內(nèi)的多套設(shè)備在運(yùn)行,,并使用該系統(tǒng)在PRB等期刊上發(fā)表多篇文章,。如Franco[4]等用鐵磁共振測試系統(tǒng)PhaseFMR對垂直磁化各向異性[CoFeB/Pd]n多層膜進(jìn)行了研究,發(fā)現(xiàn)有效垂直各向異性隨多層重復(fù)次數(shù)的增加而增大,,部分測試數(shù)據(jù)見圖6,。
圖6 PhaseFMR用戶文章數(shù)據(jù)
鐵磁共振測試系統(tǒng)參數(shù)
如果您擁有電磁鐵平臺,快來升鐵磁共振測試系統(tǒng)吧,!
如果您擁有PPMS或者VersaLab,,快來升鐵磁共振測試系統(tǒng)吧!
如果您擁有Montana標(biāo)準(zhǔn)型低溫恒溫器,快來升鐵磁共振測試系統(tǒng)吧,!
如果您也想在SQUID上進(jìn)行鐵磁共振測試怎么辦,?,別著急,,目前Quantum Design的工程師正在努力研發(fā)中,,相信不久后,我們將我們會發(fā)布為您帶來在SQUID上成功應(yīng)用FMR的好消息,!
參考:
[1]中國科學(xué)院物理研究所
http://www.iop.cas.cn/xwzx/snxw/201806/t20180605_5021775.html
[2] H. Wu, L. Huang, C.Fang, B. S. Yang, C. H. Wan, G. Q. Yu, J. F. Feng, H. X. Wei, and X. F. Han, Phys.Rev. Lett. 120, 097205 (2018).
[3]Y.Sun, H. Chang, M. Kabatek, Y. Y. Song, Z. Wang, M. Jantz, W. Schneider, M. Wu,E. Montoya, B. Kardasz, B. Heinrich, S. G. E. te Velthuis, H. Schultheiss, andA. Hoffmann, Phys. Rev. Lett. 111, 106601 (2013).
[4]A.F. Franco, C. Gonzalez-Fuentes, J. A° kerman, and C. Garcia,Phys.Rev. B 95, 144417 (2017).
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