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高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀(生產用) 型號:KDKLT-1B | 貨號:ZH8203 |
產品簡介: τ:10~6000μs,,ρ>3Ω·cm ,配數字示波器 用于硅,、鍺單晶的少數載流子壽命測量,,除需要有一個測量平面外,對樣塊體形嚴格要求,,可測塊狀和片狀單晶壽命,。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況,是單晶質的重要檢測項目,。 設備組成 1.光脈沖發(fā)生裝置: 重復頻率>25次/s 脈 寬>60μs 光脈沖關斷時間<1μs 紅外光源波長:1.06~1.09μm(測量硅單晶) 脈沖電流:5A~20A 如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源 2.高頻源: 頻 率:30MHz低輸出阻抗 輸出功率>1W 放大器和檢波器: 頻率響應:2Hz~2MHz 3.配用示波器: 配用示波器:頻帶寬度不低于10MHz,,Y軸增益及掃描速度均應連續(xù)可調。 測量范圍: 可測硅單晶的電阻率范圍:ρ≥0.1Ω·㎝(歐姆·厘米) 壽命值的測量范圍:5~6000μs(微秒) | ![]() |
北京中慧天誠科技有限公司 - 主營產品: 活性炭裝填密度測定裝置,活塞式柱狀沉積物采樣器,四探針電阻率 ...
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