聯(lián)系電話
北京中慧天誠科技有限公司
中級會員·16年北京中慧天誠科技有限公司
中級會員·16年聯(lián)系電話
當前位置：> 供求商機> KDKLT-200型數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測試儀/少子壽命測試儀（鑄造多晶）
所在地：國產(chǎn)
貨物所在地：北京北京市
更新時間：2025/2/14 7:12:16
訪問次數(shù)：279
掃一掃訪問手機商鋪
| 數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測試儀/少子壽命測試儀（鑄造多晶） 型號：KDKLT-200 | 貨號：ZH8204 |
| 產(chǎn)品簡介: 100C型200型的的zui大區(qū)別只是紅外激光管的功率大了一倍，加了個紅外地光照破除陷進效應(yīng) τ:1～6000μs ρ＞0.1Ω·cm太陽能硅片壽命,，配已知壽命樣片、配數(shù)字示波器,， 為解決太陽能單晶,、多晶少子壽命測量，特按照國標GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測試儀,。 該設(shè)備是按照標準GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集成電路,、晶體管,、整流器件、核探測器行業(yè)已運用了三十多年,，積累豐富的使用經(jīng)驗,，經(jīng)過數(shù)次十多個單位巡回測試的考驗,，證明是一種成熟的測試方法，適合于硅塊,、硅棒研磨面的少子體壽命測量,；也可對硅片進行測量，給出相對壽命值,。方法本身對樣品表面的要求為研磨面,，制樣簡便。 產(chǎn)品特點： 1.可測量太陽能多晶硅塊,、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命,。表面拋光，直接對切割面或研磨面進行測量,。同時可測量多晶硅檢驗棒及集成電路,、整流器、晶體管硅單晶的少子壽命,。 2.可測量太陽能單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對壽命,，表面拋光、鈍化,。 3.配備軟件的數(shù)字示波器,，液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時顯示動態(tài)光電導(dǎo)衰退波形,，并可聯(lián)用打印機及計算機,。 4.配置兩種波長的紅外光源： a.紅外光源，光穿透硅晶體深度較深≥500μm,，有利于準確測量晶體少數(shù)載流子體壽命,。 b.短波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm,，但光強較強,，有利于測量低阻太陽能硅晶體。 5.測量范圍寬廣測試儀可直接測量： a.研磨或切割面：電阻率≥0.3Ω?㎝的單晶硅棒,、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命,，切割片的少子相對壽命。 b.拋光面：電阻率在0.3～0.01Ω?㎝范圍內(nèi)的硅單晶,、鍺單晶拋光片,。 |  |
北京中慧天誠科技有限公司 - 主營產(chǎn)品： 活性炭裝填密度測定裝置,活塞式柱狀沉積物采樣器,四探針電阻率 ...
化工儀器網(wǎng)設(shè)計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 Copyright(C) http://sorrent.com.cn All rights reserved
以上信息由企業(yè)自行提供,，信息內(nèi)容的真實性,、準確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負責，化工儀器網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
