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KDKLT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀（測(cè)單晶）
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- KDKLT-100C 產(chǎn)品型號(hào)
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訪問次數(shù)：807更新時(shí)間：2017-07-10 14:05:21
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
| 數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀（測(cè)單晶） 型號(hào)：KDKLT-100C | 貨號(hào)：ZH8201 |
| 產(chǎn)品簡介: τ:1～6000μs ρ＞0.1Ω·cm太陽能硅片壽命 配已知壽命樣片,、配數(shù)字示波器 為解決太陽能單晶,、多晶少子壽命測(cè)量，特按照國標(biāo)GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測(cè)試儀,。 該設(shè)備是按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測(cè)定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計(jì)制造,。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集成電路、晶體管,、整流器件,、核探測(cè)器行業(yè)已運(yùn)用了三十多年，積累豐富的使用經(jīng)驗(yàn),，經(jīng)過數(shù)次十多個(gè)單位巡回測(cè)試的考驗(yàn),，證明是一種成熟的測(cè)試方法，適合于硅塊,、硅棒研磨面的少子體壽命測(cè)量,；也可對(duì)硅片進(jìn)行測(cè)量，給出相對(duì)壽命值,。方法本身對(duì)樣品表面的要求為研磨面,，制樣簡便。 產(chǎn)品特點(diǎn)： 1.可測(cè)量太陽能多晶硅塊,、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命,。表面拋光，直接對(duì)切割面或研磨面進(jìn)行測(cè)量,。同時(shí)可測(cè)量多晶硅檢驗(yàn)棒及集成電路,、整流器,、晶體管硅單晶的少子壽命。 2.可測(cè)量太陽能單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對(duì)壽命,，表面拋光,、鈍化。 3.配備軟件的數(shù)字示波器,，液晶屏上直接顯示少子壽命值,，同時(shí)顯示動(dòng)態(tài)光電導(dǎo)衰退波形，并可聯(lián)用打印機(jī)及計(jì)算機(jī),。 4.配置兩種波長的紅外光源： a.紅外光源,，光穿透硅晶體深度較深≥500μm，有利于準(zhǔn)確測(cè)量晶體少數(shù)載流子體壽命,。 b.短波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm,，但光強(qiáng)較強(qiáng),，有利于測(cè)量低阻太陽能硅晶體。 5.測(cè)量范圍寬廣測(cè)試儀可直接測(cè)量： a.研磨或切割面：電阻率≥0.3Ω?㎝的單晶硅棒,、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命,，切割片的少子相對(duì)壽命。 b.拋光面：電阻率在0.3～0.01Ω?㎝范圍內(nèi)的硅單晶,、鍺單晶拋光片,。 壽命可測(cè)范圍：0.25μS—10ms |  |
