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ZH411高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀（基本型）τ:10～6000μs ρ＞3Ω?cm 型號：ZH411
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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- ZH411 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：803更新時間：2024-11-28 11:40:14
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
| 高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀（基本型）τ:10～6000μs ρ＞3Ω•cm 型號：ZH411 | 貨號：ZH411 |
| 1、 用途 用于硅,、鍺樹脂動態(tài)粘度計單晶的少數(shù)載流子壽命測量,，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形嚴(yán)格要求,，可測塊狀和片狀單晶壽命,。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶的重要檢測項(xiàng)目,。 2,、 設(shè)備組成 2.1、光脈沖發(fā)生裝置 重復(fù)頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關(guān)斷時間＜0.2-1μｓ 紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A定性測試紙 如測量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長的光源 2.2,、高頻源 頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W 2.3,、放大器和檢波器 頻率響應(yīng)：2Hz～2MHz 2.4、配用示波器 配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz,，Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào),。 3、測量范圍 LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ www.centrwin.com |  |
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