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ZH420便攜式電阻率測(cè)試儀/方阻測(cè)試儀(成套) GDSKDT-1 B探頭 型號(hào):ZH420
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
2、測(cè)量厚度大于4倍探針間距的硅晶體,,也可測(cè)量薄硅片電阻率及方阻,。
3、電阻率測(cè)量范圍復(fù)蓋Z常用的區(qū)段:0.01—199.9Ω·cm ,。
產(chǎn)品介紹
便攜式電阻率測(cè)試儀/方阻測(cè)試儀(成套) GDSKDT-1 B探頭 型號(hào):ZH420 | 貨號(hào):ZH420 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介 1,、半導(dǎo)體材料電阻率的及標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法。樹(shù)脂動(dòng)態(tài)粘度計(jì) 2,、測(cè)量厚度大于4倍探針間距的硅晶體,,也可測(cè)量薄硅片電阻率及方阻。 3,、電阻率測(cè)量范圍復(fù)蓋zui常用的區(qū)段:0.01—199.9Ω·cm ,。 方塊電阻測(cè)量范圍復(fù)蓋zui常用的區(qū)段:0.1—1999Ω/□。 4,、配置高精度恒流源,,測(cè)量電流穩(wěn)定,分兩檔:1mA,、10mA,,每檔在大范圍內(nèi)調(diào)節(jié)(1mA:0.1—1mA;10mA:1mA—10mA),。 5,、測(cè)量精度高:電器定性測(cè)試紙測(cè)量精度優(yōu)于0.3%; 整機(jī)測(cè)量誤差:測(cè)量1-100Ω·cm的標(biāo)準(zhǔn)硅片誤差≤±3%,。 測(cè)量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標(biāo)準(zhǔn)硅片誤差≤±5%,。 6、重量輕,,約2.5kg,;體積小:240×210×100(mm),。 7,、可配用多種探針間距的四探針頭:1.00mm、1.59mm,。 www.centrwin.com | ![]() |