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產地類別 | 國產 |
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該設備是根據PTC研究項目的需要而開發(fā)的用計算機控制PTC材料R-T曲線性能的儀器。
高阻測定儀是在高溫和線性升溫條件下測試材料的高阻性能的儀器,。
貨號:ZH7263
VXMGZ-I高阻測定儀簡介:
該設備是根據PTC研究項目的需要而開發(fā)的用計算機控制PTC材料R-T曲線性能的儀器。
高阻測定儀是在高溫和線性升溫條件下測試材料的高阻性能的儀器,。
VXMGZ-I高阻測定儀主要參數:
可對Ф40mm以上或10×10×10mm3PTC樣品進行R-T特性試驗儀器電阻測量范圍:0.01Ω-1015Ω±3%
溫度控制范圍:室溫-300℃
分辨率:0.1℃
控溫方式:恒溫±0.5℃
勻速升溫速率:0.5-5℃/分
勻速升溫精度:±1℃
計算機自動PTD調節(jié),曲線CRT顯示,,數據存儲,、打印。
貨號:ZH7263
VXMGZ-I高阻測定儀簡介:
該設備是根據PTC研究項目的需要而開發(fā)的用計算機控制PTC材料R-T曲線性能的儀器,。
高阻測定儀是在高溫和線性升溫條件下測試材料的高阻性能的儀器,。
主要參數:
可對Ф40mm以上或10×10×10mm3PTC樣品進行R-T特性試驗儀器電阻測量范圍:0.01Ω-1015Ω±3%
溫度控制范圍:室溫-300℃
分辨率:0.1℃
控溫方式:恒溫±0.5℃
勻速升溫速率:0.5-5℃/分
勻速升溫精度:±1℃
計算機自動PTD調節(jié),曲線CRT顯示,,數據存儲,、打印,。