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兩探針單晶硅多晶硅測試儀 型號：SHY-JGL1 貨號：ZH9060
產(chǎn)品簡介:
本儀器主于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況,，以便硅材料的切割和加工。
為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展，是計(jì)算機(jī)芯片,、內(nèi)存的發(fā)展,，越來越多的使用到了大直徑,、高度,、均勻度高的單晶硅材料,。目前,，在美國,、德國等的工業(yè)，均采用了二探針法,，使用二探針檢測儀來測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況,。
本儀器美國ASTM 《“F391-77”關(guān)于二探針測量硅單晶試驗(yàn)方法》的標(biāo)準(zhǔn)，是一種的半導(dǎo)體電阻率測試儀,，適合半導(dǎo)體材料廠和器件廠用于二探針法測量單晶硅和多晶硅半導(dǎo)體棒狀材料的體電阻率,，從而進(jìn)一步判斷半導(dǎo)體材料的性能，指導(dǎo)和監(jiān)視操作,，也可以用來測量金屬材料的電阻,，儀器具有測量精度高,、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊,、使用方便,、造型美觀等特點(diǎn)。也可以配四探針測試頭作常規(guī)的四探針法測量硅晶體材料,。
儀器分為儀表電氣控制箱,、測試臺、探頭三部分,，儀表電氣控制箱由高靈敏度直流數(shù)字電壓表、高抗干擾高隔離性能的電源變換裝置,、高穩(wěn)定高精度恒流源和電氣控制部分組成,。測量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示，零位穩(wěn)定,、輸入阻抗高,，并設(shè)有自校功能。在棒狀材料使用二探針法測試時,，具有系數(shù)修正功能,，從面板輸入相應(yīng)的修正系數(shù)，可以直接讀出電阻率,，使用方便,。測試臺結(jié)構(gòu)，造型美觀,，可以方便地固定好大小尺寸的樣品,，并可以作逐點(diǎn)選擇步進(jìn)測量，也可以自由選擇固定位置測量,，電活動自如,，具備鎖定裝置，方便重復(fù)測量,。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅，測試探頭能自動升降,，探針為碳化鎢材料,，配置寶石軸承，具有測量精度高,、游移率小,、耐磨、使用壽命長特點(diǎn),。同時探頭壓力恒定并且可調(diào)整,，以適合不同的材料,。
規(guī)格參數(shù)：
可測硅材料尺寸：
直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求。
長度：100~1100mm.
測量方式：軸向測量,，每隔10mm測量一點(diǎn),。
測量電阻率范圍：10-3~103Ω-cm,可擴(kuò)展到105Ω-cm。
數(shù)字電壓表：
量 程：0.2mV,、2mV,、20mV,、200mV,、2V
測量誤差：±0.3%讀數(shù)±2字
輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>106Ω
20mV檔及以上>108Ω
顯 示：31/2位LED數(shù)字顯示，范圍0~1999,。
恒 流 源：
電流輸出：直流電流0~100mA連續(xù)可調(diào),。
量 程：10μA、100μA,、1mA,、10mA、100mA
電流誤差：±0.3%讀數(shù)±2字
二探針測試裝置：
探針間距：4.77mm
探針機(jī)械游移率：0.3%
探針壓力：0~2kg可調(diào)
測試探頭自動升降
二探針測試臺
測試硅單長度：100-1100mm
測試點(diǎn)間距：10mm
測試臺有慢,、快二種移動速度，快速移動速度為1000mm/分（均勻手動）
電 源：交流220V±10%,，50HZ±2HZ
消耗功率：<150W
