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高精度薄膜測厚儀(0.001μm)
型號：DRK-204C
薄膜檢測儀對薄膜，測量厚度、均勻性,、薄膜彈性模量等，并且可以與計算機連接通訊,，實現(xiàn)數(shù)據(jù)自動處理,，從而提高了檢驗速度，了檢測人員的勞動強度,。該儀器對環(huán)境溫度波動不敏感,，經(jīng)濟實用，適合于%種薄膜企業(yè)的,，控制和計量檢測單位或的檢測使用,。
構成： 由光電傳感器、測量座,、抬落,、數(shù)顯表等部分組成。
特點：檢定快速,，準確,。測量值由數(shù)顯表直接顯示，讀數(shù)方便,，減少人為讀數(shù)誤差,；%特的設計使儀器結構穩(wěn)定性很高，溫度穩(wěn)定性很好,；測量重復性好,，漂移量很小?？蓪崿F(xiàn)位置清零,、
公/英制轉換,、預先置數(shù),、自動求，值和,，值等多種功能,；可通過與計算機連接通訊實現(xiàn)測量結果的自動記錄、自動處理,、打印及統(tǒng)計分析等,；對環(huán)境溫度波動相對不敏感,，現(xiàn)有基層計量室不
提高溫控要求即可使用。
主要參數(shù)
數(shù)顯分辨率：0.001μm
示值誤差：±(0.4+0.04L)μm
測量范圍：0-10mm
