HCC-24磁阻法測(cè)厚儀

本儀器采用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行測(cè)量,， 符合標(biāo)準(zhǔn)ISO2178和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956。當(dāng)探頭與覆蓋層接觸時(shí),，探頭和磁性基體構(gòu)成一閉合磁回路,，  由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加,， 磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度,。通過(guò)對(duì)磁阻的測(cè)量， 經(jīng)電腦進(jìn)行分析處理,， 由液晶顯示器直接顯示出測(cè)量值,。

2  技術(shù)參數(shù)

1）測(cè)量范圍： 0μm～1200μm。

2）示值誤差：±((1~3)%H+1μm） H為被測(cè)涂層厚度,。

3）分辨率：1μm,。

4）小測(cè)量面的直徑：  φ10mm。顯示窗主機(jī)2

5）顯      示：4位LCD顯示測(cè)量的次數(shù),、平均值,、大值、小值,，同時(shí)指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況,。

6）電     源：一節(jié)6F22型9V電池,。

7）外形尺寸：160 mm×80 mm×30mm。

8）質(zhì)     量：約250g,。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃,；相對(duì)濕度不大于90%。

3  儀器外型

為了保證儀器正常工作并獲得佳工作狀態(tài),， 請(qǐng)注意以下2個(gè)使用細(xì)節(jié)：

1.在儀器開(kāi)機(jī)時(shí),，使探頭遠(yuǎn)離被測(cè)件和其它鐵磁性物體（10cm以上），直到儀器顯示“0μm”為止,。

2.每次測(cè)試后,，盡量上提探頭，使其遠(yuǎn)離被測(cè)件,，這樣會(huì)使儀器處于良好的環(huán)境適應(yīng)狀態(tài),。

6  正式測(cè)試前的準(zhǔn)備工作

用戶(hù)購(gòu)買(mǎi)HCC-24 磁阻法測(cè)厚儀后的新儀器在進(jìn)行實(shí)際使用前， 都必須要進(jìn)行儀器的校正,， 這是保證儀器達(dá)到標(biāo)稱(chēng)精度的重要保證,，請(qǐng)務(wù)必重視。儀器有多種校正方法,， 使用很靈活,， 用戶(hù)可根據(jù)實(shí)際需要選擇如下一種方式：

1） 全范圍高準(zhǔn)確度的傳統(tǒng)校正法

用戶(hù)通過(guò)隨機(jī)配備的三個(gè)不同厚度的試片和裸基體完成校正，具體步驟如下：

步驟一

在儀器處于開(kāi)機(jī)后的狀態(tài)時(shí),， 按一下 “校正CAL”鍵,，儀器屏上會(huì)出現(xiàn)“CAL”，同時(shí)會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值,，該數(shù)值如果不為“0”,，按“>”鍵，直到該數(shù)值由大到小變到“0”為止,。然后將探頭放在裸基體的測(cè)試面上進(jìn)行測(cè)試（注意,， 這里的裸基體一定要和實(shí)際被測(cè)物的材料和形狀*相同。 不要使用隨機(jī)配備的標(biāo)準(zhǔn)金屬基塊,， 那只能用來(lái)驗(yàn)證儀器本身工作是否正常,， 不能用來(lái)校正儀器） 。 可以測(cè)試幾下,， 待儀器上顯示的數(shù)值基本穩(wěn)定后,， 按一下“校正CAL”鍵，儀器的零點(diǎn)便校正完畢,，它會(huì)顯示一個(gè)新的數(shù)值,。

步驟二

該試片平放在裸基體上，探頭再壓在上面進(jìn)行測(cè)試,，可以重復(fù)幾次,。待儀器顯示的測(cè)量值穩(wěn)定后,，按一下“校正CAL”鍵，個(gè)試片的校正結(jié)束,，儀器又顯示下一個(gè)校正片的厚度值,。

步驟三

用步驟二相同的方法， 只是所用試片要換成厚度200μ m左右的那一片,。

步驟四

依然和步驟二相同,， 但所用的試片要換成1200μm左右的那一片。到這個(gè)步驟的后階段,，按一下“校正CAL”鍵,， 儀器屏上還會(huì)繼續(xù)顯示一個(gè)校正片的厚度值， 如“1999”,，不用再做下去了,，再按一下“校正CAL”鍵，校正便全部結(jié)束了,。 這時(shí)的儀器便可以進(jìn)行高準(zhǔn)確度的實(shí)際測(cè)量了,。

在以后使用時(shí)，如果有必要,，可以再次做上面四個(gè)步驟的校正,。 儀器會(huì)記住了上次的零點(diǎn)和每個(gè)試片的厚度值， 這樣就可以根據(jù)儀器提示,， 不用再修正試片厚度值,，便能輕松完成各個(gè)步驟。

2）上下限校正法

在大多數(shù)情況下,， 用戶(hù)使用本儀器測(cè)試的對(duì)象有一定的共性， 如材料和形狀相同,， 涂層厚度也局限在某個(gè)范圍內(nèi),， 此時(shí)用戶(hù)關(guān)心的也許是被測(cè)對(duì)象的涂層是否超差。 如果這些條件成立,， 那么就沒(méi)有必要使用上面多步驟的傳統(tǒng)校正法,， 而只需要運(yùn)用上下限校正便能很好地完成使命。

本方法只需要兩個(gè)步驟校正兩點(diǎn),，當(dāng)然,，這兩點(diǎn)好直接選用用戶(hù)被測(cè)件涂層允許范圍中的小和大厚度。這樣校正的結(jié)果,， 儀器在這兩個(gè)校正點(diǎn)上的精度非常高,，甚至比上面?zhèn)鹘y(tǒng)的校正還要好。 要實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn),， 用戶(hù)首先要設(shè)法獲得符合這兩個(gè)校正點(diǎn)厚度的試片,， 可以向本公司提出購(gòu)買(mǎi)特殊試片的要求,， 也可以自行尋找符合條件的樣品。 于苛求試片或樣品的厚度值與理想的校正點(diǎn)*相符,。 有了這兩個(gè)厚度片或?qū)嶋H樣品后,， 校正便可按如下步驟進(jìn)行：

步驟一

先校正兩者中較小的那個(gè)厚度值。 在儀器開(kāi)機(jī)后的狀態(tài)下,，按一下“校正CAL”鍵,，用“<”或“>”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值， 使其和兩點(diǎn)中較小的那個(gè)厚度值一致,。然后,，在裸基體上平放對(duì)應(yīng)厚度的試片，探頭再壓上進(jìn)行測(cè)試,。如果是樣品,，那么直接測(cè)試該樣品?？梢灾貜?fù)幾次測(cè)試,，待儀器顯示的測(cè)試值穩(wěn)定后，按一下“校正CAL”鍵,，該點(diǎn)的校正便完成,，儀器進(jìn)入下一點(diǎn)校正。

步驟二

接上一步驟,，用“<”,、  “>”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值， 使其和兩點(diǎn)中較大的那個(gè)厚度值一致,。 按步驟一同樣的方法,， 用另一塊對(duì)應(yīng)的試片或樣品進(jìn)行測(cè)試， 待儀器顯示的測(cè)量值穩(wěn)定后,，按兩次“校正CAL”鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過(guò)程）,，上下限的校正便完成了。

如果以后還要做同樣的上下限校正,， 借助儀器已經(jīng)記住的兩個(gè)校正點(diǎn)厚度值,， 能進(jìn)一步讓用戶(hù)省去上面兩個(gè)步驟中調(diào)整厚度的那部分操作， 使用將更加便捷,。

3）單點(diǎn)校正法

有時(shí)候,，受條件限制，譬如被測(cè)體是個(gè)凹面,，無(wú)法使用很難彎曲的厚試片進(jìn)行校正,； 或者用戶(hù)接觸到的涂層厚度局限在一個(gè)相對(duì)較小的范圍內(nèi)。 此時(shí),， 只能或只需要用一個(gè)校正點(diǎn),。這個(gè)校正點(diǎn)可以是裸基體（零點(diǎn)）,，也可以是某個(gè)任意涂層厚度的樣品。 如果用戶(hù)的接觸到的被測(cè)件涂層厚度在某個(gè)較小范圍內(nèi),， 如100μ m左右,， 那么這個(gè)校正點(diǎn)選100μ m是合適的。 校正點(diǎn)定好以后就可以開(kāi)始校正了,， 只有如下一個(gè)步驟：

在儀器開(kāi)機(jī)后的狀態(tài)下,，按一下“校正CAL”鍵，用“<”或“>”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值,，使其為“0”或與樣品的厚度值一致,。 然后， 將探頭直接放在裸基體上進(jìn)行測(cè)試,。 如果是樣品,， 那么直接測(cè)試該樣品。 可以重復(fù)測(cè)幾次,，待儀器顯示的測(cè)試值穩(wěn)定后,，按兩下“校正CAL”鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過(guò)程），單點(diǎn)校正便完成了,。

同樣,， 如果以后還要做同樣的單點(diǎn)校正， 借助儀器已經(jīng)記住的校正點(diǎn)厚度值,， 能進(jìn)一步讓用戶(hù)省去上面步驟中調(diào)整厚度的那部分操作,，使用將更加便捷。

相對(duì)于上面的幾種方法,， 本校正法的操作簡(jiǎn)單,。 但代價(jià)是儀器的測(cè)試精度在遠(yuǎn)離校正點(diǎn)處可能會(huì)有所降低。用戶(hù)可以不妨試用一下本校正法,， 以便判斷它能否滿足實(shí)際的測(cè)試要求,。

4）任意多個(gè)校正點(diǎn)校正法

如果用戶(hù)接觸到的被測(cè)物件形狀比較特殊， 而且涂層厚度的范圍也比較大,， 同時(shí)精度又有更高的要求， 那么用戶(hù)可以自行挑選多個(gè)校正點(diǎn) （多10個(gè)） 進(jìn)行校正,， 儀器允許的校正點(diǎn)厚度為0～1999μm,。有一點(diǎn)請(qǐng)注意，在實(shí)際進(jìn)行校正的過(guò)程中,， 多個(gè)厚度執(zhí)行順序必須由小到大依次進(jìn)行,。具體的操作步驟和上面的傳統(tǒng)校正法類(lèi)似， 此處就不再重復(fù)了,。

9  儀器的日常維護(hù)

1）儀器使用完畢后,，應(yīng)放入清潔,、干燥的儲(chǔ)存箱里，避免沖擊和振動(dòng),。

2）探頭應(yīng)避免敲擊和強(qiáng)烈振動(dòng)并保持清潔,，被測(cè)物上的污物在測(cè)量前必須被清除。

3） 儀器長(zhǎng)時(shí)間不用時(shí),， 應(yīng)取出電池,， 以免電池漏液損壞儀器。