高靈敏度?高選擇性

GC/MS可以通過(guò)保留時(shí)間和質(zhì)譜圖進(jìn)行化合物確認(rèn)。經(jīng)常被用于痕量物質(zhì)的分析,。然而在復(fù)雜基質(zhì)中這項(xiàng)工作變得非常困難。GC/MS/MS提供的多反應(yīng)監(jiān)測(cè)模式（MRM）對(duì)離子進(jìn)行兩步電離。選擇性明顯優(yōu)于GCMS,。在復(fù)雜基質(zhì)樣品中,，即使目標(biāo)化合物不能通過(guò)Scan或SIM模式獲得結(jié)果,，使用MRM模式可以清晰地被檢測(cè)出來(lái)。例如,，分析食品中的殘留農(nóng)藥,。

基于單GC-MS方式的高靈敏度分析

     GCMS-TQ8030采用高靈敏度離子源以及OD透鏡,，可以高效、選擇性地檢測(cè)生成的離子,。不僅是基于GC/MS/MS的MRM測(cè)定,，而且,，在GC/MS的SCAN以及SIM測(cè)定中也實(shí)現(xiàn)了高靈敏度,。

快速性能

UFsweeper高效去除碰撞室中的產(chǎn)物離子

     UFsweeper為島津*技術(shù),，將碰撞室的所需長(zhǎng)度減至zui小限度，實(shí)現(xiàn)CID高效率和離子的快速傳輸,。通過(guò)形成如下圖顯示的模擬電位,，進(jìn)入碰撞室內(nèi)的離子被連續(xù)快速去除，即使在快速測(cè)定中也可以有效抑制信號(hào)強(qiáng)度下降以及串?dāng)_問(wèn)題的發(fā)生,。

基于ASSP™技術(shù)的快速掃描分析

     作為提高實(shí)驗(yàn)室效率,、實(shí)現(xiàn)更高度的數(shù)據(jù)解析的方法，人們期待著利用Fast-GC/MS法提高分析效率,、以Scan與SIM或Scan/MRM同時(shí)測(cè)定進(jìn)行準(zhǔn)確的化合物定性/定量解析，這就要求質(zhì)譜儀具有超越以往的快速性能,。

     GCMS-TQ8030的內(nèi)部硬件設(shè)計(jì)配備了在全掃描過(guò)程中優(yōu)化離子傳輸速度的設(shè)計(jì),。這種技術(shù)稱之為高速掃描控制技術(shù) (ASSP™)，是在高達(dá)20,000u/秒高速采集時(shí)獲得高質(zhì)量質(zhì)譜圖的關(guān)鍵,。

對(duì)應(yīng)快速M(fèi)RM測(cè)定

     Fast-GC/MS的峰洗脫時(shí)間非常短,，峰尖銳，需要進(jìn)行快速M(fèi)RM測(cè)定,。20,000u/秒的高速掃描能力和Ufsweeper技術(shù)使得快速MRM成為可能

輕松自如的操作性與設(shè)計(jì)

AART功能自動(dòng)校正MRM保留時(shí)間
Easy sTop功能減少維護(hù)時(shí)的停機(jī)時(shí)間
兼?zhèn)湓O(shè)計(jì)性與功能性的裝置設(shè)計(jì)