簡易四探針測試儀|SZT-4|,，是二量程的電阻測量儀器,，配以手持式測試頭或座式測試架，可用來測量片狀,，柱狀,，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導體材料,。（客戶根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程,，zui小可以測量0.0001Ωzui大可以測量100000Ω,根據(jù)電流檔定精度）通過對恒流源的調(diào)整，可以對某些測量結(jié)果進行修整,，例如對普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù),，對硅材料薄層擴散和導電薄膜“方塊電阻“的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。SZT－4數(shù)字式四探針測試儀,，體形小巧,，操作方便，量程適中,，十分適於對重煉回料的分選,。

     本儀器工作環(huán)境條件為：

       相對濕度：60%－80%

     　　溫　　度：18℃―25℃

     工作室內(nèi)應無強電場干擾，不與高頻設(shè)備共用電源,。

二,，技術(shù)參數(shù)

1,測量范圍

     電阻率       0.01-200Ω-cm

方塊電阻       0.01-200Ω-口

電    阻       0.01-200.0

2,數(shù)字電壓表

     （1）量    程 :       200mV單一量程

     （2）誤    差:      讀數(shù)±0.2%±3字

（3）輸入電阻 :      >10MΩ

3,恒流源

     （1）電流輸出               0~10mA連續(xù)可調(diào)

     （2）量    程             1mA, 10mA

     （3）誤    差             ±0.2%±3字,

4,手持式四探針測試頭

（1）探 針 間 距::      1mm

（2）探針機械游移率:      ±1.0%

（3）探 針 材 料:      碳化鎢,φ0.

（4）壓力: zui大 2Kg

5,電源:

     220V±10%：50Hz

功耗：　　5W

6,，外形尺寸;

7，使用方法：取出儀器平放於桌上,，將三芯電源線接入儀器的電源插座中,，并接通交流電壓（220V），再將測試探頭的插頭插入相應的插座中,，按下電源開關(guān)使儀器得電,，儀器上的數(shù)字電壓表就有讀數(shù)顯示，如果面板上的二個功能開關(guān)全部處於彈出狀態(tài),，則二個開關(guān)旁邊的“調(diào)整"指示燈和：“1mA"指示燈將被點亮,，此時旋轉(zhuǎn)電流調(diào)節(jié)旋鈕電壓表讀數(shù)就會發(fā)生有規(guī)則的變化，這說明儀器已經(jīng)可以正常工作,。

下一步就可以跟據(jù)測試的須要對電流進行調(diào)整。電流調(diào)整應該將電流開關(guān)放在10mA的位置上,。

8,，電流調(diào)整：

（1）半導體（硅）材料的電阻率測試：

在10mA電流量程上將電流調(diào)到6.28mA,相當于在10mA電流情況下測得的結(jié)果,乘以探頭修正系數(shù)0.628。

由於恒流源的調(diào)整,，1mA和10mA是同步的,，在`10mA調(diào)準以后1mA量程同樣包含有這個修正系數(shù)。

（2）半導體（硅）材料薄層擴散,，玻璃或塑料的薄導電鍍復層的方塊電阻測試:

在10mA電流量程上將電流調(diào)至4.53mA, 測得結(jié)果乘以10,就是方塊電阻,。

     （3）電阻測試：

電阻測試不能使用探頭，必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭

“電阻測試線"（選配件）,。電流調(diào)到10mA,電壓表的顯示值

就是電阻值,，不用修正。

（4）在做好測試前的準備工作之后,，取下探頭保護蓋,，將探頭壓在被測工件上，使四根探針和工件保持良好接觸,，

使用時的注意事項,；

（1）保護蓋取下后一定要保存好，用畢仍要蓋好,，以防探針損壞,。

（2）儀器操作時，應備戴乾燥手套,，操作場地,，桌椅均應保持乾燥。

（3）在被測材料外形尺寸允許的情況下,，建議使用臺式測試架（選購件）,，可使測試精度和穩(wěn)定性都會有所提高,。

（4）對於被測工件為片狀其厚度<3.49毫米時,還應對測試結(jié)果進行厚度修正,修正參數(shù)見參數(shù)表,附錄`1A和附錄1B 。

（5）附錄2,，是對片狀工件外形（園形,，矩形）和測量位置的修正參數(shù)表。

簡易四探針測試儀|SZT-4|