JX-2000顆粒圖像分析儀JX2000顯微顆粒圖像分析儀粒度儀

一,、應(yīng)用范圍
    適用于石墨,、磨料、陶瓷,、碳化硅,、硅灰石、金剛石,、金屬粉,、碳粉、藥粉,、涂料,、水泥、硬質(zhì)合金,、催化劑,、云母粉,、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析。
二,、性能特點(diǎn)
1. JX-2000顆粒圖像分析儀,，工業(yè)級(jí)攝像頭高速采集，光學(xué)顯微鏡放大成像,，圖像快速顯示于電腦,，直接觀察顆粒形貌，軟件進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理,。
2.  測(cè)量范圍：0.5μm～3000μm
3.  接口方式：USB連接,。
4. 平場(chǎng)消色差物鏡，zui大分辨率0.07微米,，zui大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍,，打印zui大倍數(shù)4000倍(A4幅面)。
5. 供等面積和等周長(zhǎng)兩種基準(zhǔn)下的個(gè)數(shù),、直徑,、面積、體積,、圓形度等分布數(shù)據(jù),。同時(shí)提供顆粒數(shù)、D10,、D50,、D90、平均粒徑,、表面積,、長(zhǎng)徑比等粒度分布數(shù)據(jù)，配有(30)多種圖像分析和處理功能,，可以滿足各種圖像處理需要,。
6. 對(duì)采集的圖像進(jìn)行調(diào)整高度、寬度,、亮度,、對(duì)比度、濾波,、填充等,，提高分析分辨率，網(wǎng)格標(biāo)注顆粒尺寸等功能,，使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠,。
7. 儀器分二種型號(hào)，技術(shù)原理,、參數(shù)都相同,，JX-2000A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡，JX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡,，后者還可用于陶瓷,、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。
8. 顆粒形貌圖像可存盤和打印,，還可輸出多種格式的測(cè)試報(bào)告,。另可根據(jù)行業(yè)特殊要求，設(shè)計(jì)磨料,、硅灰石等軟件,。
三、   圖像分析處理功能
1.  色調(diào)處理：負(fù)像,、灰度化,、色調(diào)調(diào)整、亮度,、對(duì)比度調(diào)整,；
2.  圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像,、90度（逆時(shí)針),、90度(順時(shí)針) 、旋轉(zhuǎn),、放大,、縮小任意比例縮放等；
3.  測(cè)量單位：微米,、毫米,、厘米、英吋任選,；
4.  圖像增強(qiáng)：對(duì)比度均衡,、膨脹、腐蝕等,；
5.  圖像處理：圖像銳化,，邊緣平滑，二值化,，邊界濾波,，分析目標(biāo)擦除、孔洞填充,，手工擦除,，手工連接，粒子屬性查看,、設(shè)置標(biāo)尺,、網(wǎng)格等功能,；
6.  分析參數(shù)：
（1）幾何參數(shù)：每個(gè)顆粒的質(zhì)心 X、Y 坐標(biāo)位置,，像素,；
（2）當(dāng)量幾何參數(shù)：等面積圓直徑，等周長(zhǎng)圓直徑,，長(zhǎng)徑,，短徑，長(zhǎng)徑比,；
（3）外接幾何參數(shù)：每個(gè)顆粒的外接圓直徑,；
（4）光密度參數(shù)：圖像 R、G,、B,、灰度分布；
（5）形態(tài)學(xué)參數(shù)：長(zhǎng)徑比,，圓度系數(shù),；

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