桌面式X射線衍射儀(XRD)主要用于材料結(jié)構(gòu)分析,，涵蓋物相、晶體結(jié)構(gòu),、應(yīng)力,、織構(gòu)、薄膜,、納米結(jié)構(gòu),、動態(tài)相變和非晶態(tài)分析。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué),、地質(zhì)學(xué),、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域,。
桌面式X射線衍射儀(XRD)的工作原理基于X射線衍射的基本原理,，即當(dāng)X射線照射到晶體上時，晶體內(nèi)部的原子或電子會散射這些射線,，形成以各原子為中心的散射波,。由于晶體中的原子是周期性排列的，這些散射波之間會產(chǎn)生固定的相位關(guān)系,，導(dǎo)致在某些方向上散射線相互加強(qiáng),，形成衍射斑點，而在其他方向上則相互抵消,。這種空間干涉現(xiàn)象就是X射線衍射的物理基礎(chǔ),。
X射線衍射技術(shù)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué),、化學(xué)、物理學(xué)等多個領(lǐng)域,，用于探究物質(zhì)的物相與晶體結(jié)構(gòu),。其非破壞性、無污染,、有效且高精度的特點,，使其成為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的重要現(xiàn)代科學(xué)方法。
主要功能和應(yīng)用領(lǐng)域
物相分析：通過衍射圖譜確定材料的晶體結(jié)構(gòu),，并分析混合物中各物相的比例,。
晶體結(jié)構(gòu)分析：測定晶體的晶胞尺寸和形狀，確定晶體的對稱性和空間群,。
應(yīng)力分析：測量材料中的殘余應(yīng)力及其分布,。
織構(gòu)分析：分析多晶材料中晶粒的取向分布。
薄膜分析：測定薄膜厚度和界面結(jié)構(gòu),，分析薄膜中的應(yīng)力狀態(tài),。
納米結(jié)構(gòu)研究：研究材料中的納米級結(jié)構(gòu),，如孔隙和顆粒,。
動態(tài)相變觀察：實時觀察材料在溫度或壓力變化下的相變過程。
非晶態(tài)材料分析：研究非晶態(tài)材料的短程有序結(jié)構(gòu),。
桌面式X射線衍射儀憑借其小型化,、高精度和多功能特點，已成為材料科學(xué),、地質(zhì)等領(lǐng)域重要的分析工具,。
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