化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品簡介
高低溫試驗(yàn)箱：該儀器適用于工業(yè)產(chǎn)品高,、低溫的可靠性試驗(yàn)。對玩具,、LED,、電子電工、汽車摩托,、航空航天,、船舶兵器、高等院校,、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高,、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo),。
詳細(xì)介紹
：
供應(yīng)高低溫試驗(yàn)箱 全新高低溫試驗(yàn)箱 自動(dòng)控溫高低溫試驗(yàn)箱
品牌：勤卓
型號多種可選
供貨類型：可訂購,、定制
高低溫試驗(yàn)箱：該儀器適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗(yàn),。對玩具,、LED、電子電工,、汽車摩托,、航空航天、船舶兵器,、高等院校,、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下,，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo),。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,，適用于按GB2423.1,、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫,、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn),。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2,、GJB150.3,、GJB150.4、IEC,、MIL標(biāo)準(zhǔn),。
溫度控制
1.可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
2.全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程的全程記錄和追溯,；
3.每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù),，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
4.SB接口,、以太網(wǎng)通訊功能,，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
5.采用流行的制冷控制模式,，可以0%~*自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
6.制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品,，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證,；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性,；
工作室材料為SS304不銹鋼- 抗腐蝕,、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長,；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到?。?br />表面噴塑處理 – 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命,；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性,；
多種可選功能（測試孔、記錄儀,、凈水系統(tǒng)等）保證了用戶多種功能和測試的需要,；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果,；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求,；
*Platinos系列 高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
產(chǎn)品備注：以上產(chǎn)品單價(jià)僅作參考，由于產(chǎn)品的規(guī)格多種,，大小不一樣定制訂購的價(jià)格也不一樣,，要知道詳細(xì)價(jià)格和報(bào)價(jià)，請與我司,， 李川
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則