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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
CK-800T高低溫試驗(yàn)箱,，技術(shù)精密,，測(cè)試性能高,，在國(guó)內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備行業(yè)，勤卓CK-800T一直具有優(yōu)良的市場(chǎng)口碑,。
詳細(xì)介紹
CK-800T高低溫試驗(yàn)箱的用途
高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備主要是針對(duì)于電工,、電子產(chǎn)品，以及其原器件,，及其它材料在高溫,、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸,、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫,、高溫,、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,，測(cè)試后,，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,，是否仍然能夠符合預(yù)定要求,，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn),、鑒定及出廠檢驗(yàn)用,。
CK-800T高低溫試驗(yàn)箱該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
CK-800T高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備的主要技術(shù)指標(biāo)
1、溫度范圍：-70℃、-40℃,、-20℃～+100（150）℃
2,、溫度波動(dòng)度：&plsmn;0.5℃
3、溫度偏差：≤2℃
4,、升降溫速率：0.7～1℃/min
CK-800T高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備的安全保護(hù)裝置
1.電源超載,、短路保護(hù)
2.接地保護(hù)
3.超溫保護(hù)
4.壓縮過(guò)壓、過(guò)載保護(hù)
5.為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源,，并發(fā)出聲訊提示,。
CK-800T高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備的使用現(xiàn)場(chǎng)的條件
1．溫度：15℃~35℃
2．相對(duì)濕度：不大于85%RH
3．周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響
4．周圍無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5．無(wú)陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射
6．周圍無(wú)強(qiáng)烈氣流,，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時(shí),，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7．試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn),，保持水平,。
8．試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作,。
9．安裝場(chǎng)地通風(fēng)良好
10．良好接地
CK-800T高低溫試驗(yàn)箱型號(hào)規(guī)格及主要技術(shù)參數(shù)
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備注：可根據(jù)客戶技術(shù)要求,、尺寸大小定制